GB/T 17362-1998
黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry
GBT17362-1998, GB17362-1998
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 17362-1998
- 別名
- GBT17362-1998, GB17362-1998
- 發(fā)布
- 1998年
- 總頁(yè)數(shù)
- 4頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 17362-2008
- 當(dāng)前最新
- GB/T 17362-2008
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電鏡的X射線能譜儀，對(duì)黃金飾品含量進(jìn)行無(wú)損的定量分析方法的技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)各種純金飾品和K金飾品含金量的測(cè)定，也可適用于各種鍍金、包金、鍛壓金等表面含金層厚度大于3um的飾品表面層含金量的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針X射線能譜儀對(duì)黃金飾品的分析。
專題
GB/T 17362-1998相似標(biāo)準(zhǔn)
推薦
X射線能譜分析
能量色散譜儀(EDS)原來(lái)是一種核物理分析設(shè)備。由于半導(dǎo)體檢測(cè)器制造和微信號(hào)低噪聲電子學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,EDS的分辨率(譜線半高寬)由60年代的300ev提高到70年代的150ev,能對(duì)Al、Si這類較輕的元素的X射線譜作出明確的鑒別,因此從70年代開(kāi)始,EDS被大量地用作熒光X射線分析和組裝到掃描電鏡...
電流斑的環(huán)境掃描電鏡X射線能譜分析
利用環(huán)境掃描電鏡-X射線能譜儀(environmental scanning electron microscope and energydispersive X-ray microanalyser,ESEM-EDX)研究電流斑微觀形態(tài)特征及元素構(gòu)成,以期為電流斑及電擊死的鑒定提供更準(zhǔn)確、客觀的依據(jù)...
花崗石礦相的掃描電鏡-X射線能譜分析
為了合理利用具有經(jīng)濟(jì)價(jià)值的各不同類別花崗石并提高其加工效果,必須采用各種檢測(cè)方法盡量了解其礦相組成和相組織狀態(tài)。本文通過(guò)剖析實(shí)例,闡明利用掃描電鏡與X射線能譜儀相結(jié)合的方法對(duì)花崗石進(jìn)行礦相顯微分析是可行而有效的,所獲信息為花崗石的評(píng)價(jià)、利用和加工提供了科學(xué)依據(jù)...
微細(xì)礦物的掃描電鏡-X射線能譜分析研究
掃描電鏡在國(guó)外已被廣泛用于礦物分析研究工作。我國(guó)地學(xué)界在七十年代初引進(jìn)掃描電鏡,國(guó)產(chǎn)掃描電鏡從1975年開(kāi)始批量生產(chǎn)。目前,掃描電鏡可以清晰觀察粒徑為微米級(jí)的礦物(最小可至1微米),同時(shí)可以迅速分析出礦物的主要化學(xué)元素組分。近幾年來(lái),我們用配接有TN-5400型X射線能譜儀的KAD-1000B型...