X射線熒光光譜分析法，利用原級(jí)X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。 [1] 在成分分析方面，X射線熒光光譜分析法是現(xiàn)代常規(guī)分析中的一種重要方法...
(1）分析速度快。 (2）X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)及物理狀態(tài)無關(guān)?！ ?3）非破壞分析?！ ?4）X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)化學(xué)性質(zhì)上屬于同一族的元素也能進(jìn)行分析?！ ?5）分析精密度高。 (6) X射線光譜比發(fā)射光譜簡單,故易于解析?！ ?7）制樣簡單?！ ?8）X射線...
X射線熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所...
20世紀(jì)20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應(yīng)用此法從事定量分析，但由于當(dāng)時(shí)記錄和探測(cè)儀器水平的限制，無法實(shí)現(xiàn)。 40年代末，隨著核物理探測(cè)器的改進(jìn)，各種計(jì)數(shù)器相繼應(yīng)用在X射線的探測(cè)上，此法的實(shí)際應(yīng)用才成為現(xiàn)實(shí)。 1948年H.弗里德曼和L.S.伯克斯制成了一臺(tái)波長色散的...
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