KS E ISO 8858-3-2022
金屬及其他無機(jī)涂層 涂層厚度測量 斐索多光束干涉法

Metallic and other non-organic coatings－Measurement of coating thicknesses－Fizeau multiple-beam interferometry method

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

KS E ISO 8858-3-2022

發(fā)布

2022年

發(fā)布單位

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局

當(dāng)前最新

KS E ISO 8858-3-2022

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用斐索多光束干涉法測量金屬和其他無機(jī)涂層的厚度的方法。適用于各種需要精確測定涂層厚度的應(yīng)用領(lǐng)域，如質(zhì)量控制和研究開發(fā)。通過利用光學(xué)原理和技術(shù)來提高測量精度和可靠性。

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