GB/T 17626.22-2017
電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量

Electromagnetic compatibility (EMC)—Testing and measurement techniques—Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic rooms（FARs）

GBT17626.22-2017, GB17626.22-2017

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

GB/T 17626.22-2017

別名

GBT17626.22-2017, GB17626.22-2017

發(fā)布

2017年

總頁(yè)數(shù)

42頁(yè)

采用標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61000-4-22:2010 IDT

發(fā)布單位

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

當(dāng)前最新

GB/T 17626.22-2017

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2900.82-2008 GB/T 4365 GB/T 6113.101 GB/T 6113.104

適用范圍

GB/T17626 的本部分涉及電子和/或電氣設(shè)備的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的測(cè)量,規(guī)定了在全電波瞳室(FAR)內(nèi)進(jìn)行的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的試驗(yàn)程序。 注:依據(jù)GB/Z18509,本部分是供相關(guān)產(chǎn)品委員會(huì)使用的電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),如導(dǎo)則GB/Z18509 所述,產(chǎn)品委員會(huì)負(fù)責(zé)確定對(duì)其EMC產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)的適用性,TC77/SAC/TC246、CISPR/SAC/TC79 及其分委員會(huì)(例如,SAC/SC7)已準(zhǔn)備好與產(chǎn)品委員會(huì)在標(biāo)準(zhǔn)制定和修訂的合作中一起來(lái)確定特定EMC試驗(yàn)在具體產(chǎn)品中的作用。 本部分規(guī)定了在同一個(gè)全電波暗室進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)量與輻射抗擾度試驗(yàn)時(shí)的通用確認(rèn)程序、受試設(shè)備(EUT)的試驗(yàn)布置要求以及全電波暗室測(cè)量方法(詳見附錄A和附錄B)。作為電磁兼容基礎(chǔ)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn),本部分對(duì)應(yīng)用于具體裝置或系統(tǒng)的抗擾度試驗(yàn)電平或發(fā)射限值不做具體規(guī)定,其主要目標(biāo)是為國(guó)內(nèi)相關(guān)產(chǎn)品委員會(huì)提供常規(guī)測(cè)量程序,而針對(duì)產(chǎn)品的具體要求和試驗(yàn)條件由相應(yīng)的產(chǎn)品委員會(huì)來(lái)規(guī)定。本部分的方法適用于30 MHz一18 GHz 頻率范圍內(nèi)的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量。

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專題

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