DIN EN IEC 61967-8:2024
集成電路 電磁輻射測量 第8部分：輻射輻射測量 IC 帶狀線法 (IEC 61967-8:2023)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (IEC 61967-8:2023); German version EN IEC 61967-8:2023

標準號

DIN EN IEC 61967-8:2024

發(fā)布

2024年

發(fā)布單位

德國標準化學會

當前最新

DIN EN IEC 61967-8:2024

 

 

介紹

德國標準化學會（Deutsches Institut für Normung e.V., 簡稱DIN）于2024年10月1日發(fā)布了《集成電路電磁輻射測量 第8部分：輻射輻射測量 IC 帶狀線法》標準，其編號為DIN EN IEC 61967-8:2024。此標準是IEC國際電工委員會制定的標準（IEC 61967-8:2023）的德國國家標準版本。

該標準的主要內容包括了用于集成電路電磁輻射測量的技術方法，特別是針對IC帶狀線法的詳細規(guī)定和應用指導。IC帶狀線法是一種先進的測量技術，在確保電子設備性能的同時，可以有效評估其對周圍環(huán)境產生的電磁干擾水平，并為其設計優(yōu)化提供科學依據。

DIN EN IEC 61967-8:2024標準為相關行業(yè)的工程師和研究人員提供了詳細的指導，幫助他們在研發(fā)過程中遵守國際通用的測試方法和技術要求。通過采用該標準，有助于提升電子產品的電磁兼容性水平，進而滿足市場對電子產品日益嚴格的環(huán)保和安全性能需求。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

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