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KS D ISO 19319-2020
表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析儀觀察到的樣品面積的測(cè)定

Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): KS D ISO 19319-2020
發(fā)布: 2020年
發(fā)布單位: 韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局
當(dāng)前最新: KS D ISO 19319-2020

專題

高分辨電子能譜儀光譜儀分析分辨率紫外光電子能譜分析紫外光電子能譜分析能譜分析分辨率俄歇電子能譜與x射線俄歇電子能譜比x射線俄歇電子能譜對(duì)樣品 x射線與俄歇光電子能 x光電子能譜儀俄歇 x光電子能譜儀-俄歇光譜面積

KS D ISO 19319-2020相似標(biāo)準(zhǔn)

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