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GSO IEC 60759:2015
半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

標(biāo)準(zhǔn)號: GSO IEC 60759:2015
發(fā)布: 2015年
發(fā)布單位: 海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織
當(dāng)前最新: GSO IEC 60759:2015

適用范圍: 本標(biāo)準(zhǔn)提出了半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序。此類系統(tǒng)由半導(dǎo)體輻射探測器組件和與脈沖高度分析儀/計算機連接的信號處理電子設(shè)備組成。本標(biāo)準(zhǔn)不包括脈沖高度分析儀和計算機的測試程序。第 5 條本質(zhì)上是教程。

專題

x射線能譜儀edxrf的原理便攜x射線能譜儀能譜儀半導(dǎo)體能譜儀半導(dǎo)體半導(dǎo)體x射線有機半導(dǎo)體x射線半導(dǎo)體器件 X射線 x射線半導(dǎo)體檢測半導(dǎo)體器件X射線 x射線半導(dǎo)體檢測半導(dǎo)體能譜儀能譜儀檢測半導(dǎo)體

GSO IEC 60759:2015相似標(biāo)準(zhǔn)

KS C IEC 60759-2009(2019) 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序 CSN 35 6575 Z1-1997 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測試程序 ANSI/IEEE Std 759-1984 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)測試程序 ANSI/IEEE Std 759-1984(R1990) 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)測試程序 IEC 60759:1983 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗程序

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