導(dǎo)讀顯微分析技術(shù)重要的設(shè)備包括：光學(xué)顯微鏡(OM)、雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)。今天的文章將介紹DB-FIB的原理及應(yīng)用，重點(diǎn)介紹廣電計(jì)量DB-FIB的服務(wù)能力及DB-FIB應(yīng)用于半導(dǎo)體分析相關(guān)的案例。什么是DB-FIB雙束掃描電子顯微鏡...
掃描電子顯微鏡的探針——高能電子的性質(zhì)使其特別適合于檢查半導(dǎo)體材料的光學(xué)和電子特性。掃描電鏡電子束中的高能電子將把載流子注入半導(dǎo)體。因此，電子束中的電子通過使電子受激從價(jià)帶進(jìn)入導(dǎo)帶而失去能量，留下空穴。 在直接帶隙材料中，這些電子-空穴對的復(fù)合將產(chǎn)生陰極射線發(fā)光；如果樣品含有內(nèi)部電場，如pn結(jié)...
近期，牛津儀器納米分析部演示實(shí)驗(yàn)室參加了由寶山鋼鐵股份有限公司分析測試研究中心舉辦的BSTCT1704 金屬的微束分析能力認(rèn)證。參加項(xiàng)目為鈦鋁合金中鈦和鋁含量的測定，取得了令人滿意的結(jié)果并獲得證書。BSTCT1704認(rèn)證工作每兩年舉辦一次，這是已是牛津儀器連續(xù)第四次獲得該證書。牛津儀器能譜系統(tǒng)采用...
4月26日至27日，全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會（SAC/TC38/SC2，以下簡稱表面化學(xué)分委）2018年年會在中國計(jì)量科學(xué)研究院（簡稱中國計(jì)量院）昌平院區(qū)召開。中國計(jì)量院院長方向、表面化學(xué)分委委員及相關(guān)領(lǐng)域?qū)＜胰嗳顺鱿瘯h。會議由表面化學(xué)分委主任委員、中國科技大學(xué)...
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