KS D ISO 15470-2020
表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 所選儀器性能參數(shù)說(shuō)明

Surface chemical analysis－X-ray photoelectron spectroscopy－Description of selected instrumental performance parameters

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

KS D ISO 15470-2020

發(fā)布

2020年

發(fā)布單位

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局

當(dāng)前最新

KS D ISO 15470-2020

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行表面化學(xué)分析時(shí)使用X射線光電子能譜儀的性能參數(shù)，以確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。它基于ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，并由韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局進(jìn)行了本土化調(diào)整和發(fā)布。

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