四探針電阻率測試儀是一種測量半導(dǎo)體材料的電阻率的儀器。 對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴(kuò)展電阻?！ ‰娮杪适欠从嘲雽?dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的方法很多，四探針法是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。它的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡單、操作方便，精確度高，對(duì)樣品的形狀無嚴(yán)格要求?！ ∽畛Ｓ?..
四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，可以測量硅、鍺單晶電阻率和硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻，主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能。廣泛用于半導(dǎo)體廠家、太陽能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究。?四探針電阻率測試儀測試四探針筆方法...
數(shù)字式四探針電阻率測試儀型號(hào)：SX1944 產(chǎn)品說明 四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導(dǎo)體廠家、太陽能行業(yè)，還能滿足科研單位的精密研究。 產(chǎn)品特點(diǎn) 四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)...
雙組合測試儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)SEMI?MF1529設(shè)計(jì)，雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中，在測試樣品的每個(gè)測量位置上，以兩種不同的方式（配置）將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測量。單...
分析测试百科网标准频道是为分析测试行业提供标准信息检索而建立，方便分析测试行业从业人员查找适用的标准。
本页面内容根据标准题录信息制作，有可能不准确甚至可能有错误。如需准确的标准信息，请参阅正式版完整文本。
部分标准提供预览和封面图，这些内容由系统根据一般约定生成，不意味着与正式版本一致，请以正式版本为准。
为响应国家号召，推广中国国家强制标准，部分GB（中国国家强制标准）可以在本站下载到标准文本，也可以前往中国国家标准化委员会网站下载。除此以外的所有标准，本站均没有相应标准的完整文本，无法提供下载，页面上提供的预览页是前几页，它不是完整文本。
为帮助用户买到标准，本站提供了一些可能的采购渠道， 部分采购渠道不属于本站，用户需要自行甄别真实性，本站不对非本站的采购渠道的真实性提供保证。本站提供的采购渠道中，部分标准提供在线采购，这类渠道可以在本站直接完成采购，实际销售方为“中国标准服务网”或“分析测试百科网”。
本页面提到的所有商标中，除“分析测试百科网”外，其他所有产品和品牌名称是对应的机构或者生产商的商标或注册商标。TM 和 ® 的标示有可能在本网站上被省略。
Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營許可證：京ICP證110310號(hào)
頁面更新時(shí)間: 2025-04-09 16:27
