SJ 20719-1998由行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子 CN-SJ 發(fā)布于 1998-03-18,并于 1998-05-01 實(shí)施。
SJ 20719-1998 在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: H82 元素半導(dǎo)體材料,在國際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 29.045 半導(dǎo)體材料。
SJ 20719-1998 碲鎘汞晶體X值的X-射線熒光法測(cè)定方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 SJ 20719-1998 。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用X-射線熒光法測(cè)定碲鎘汞晶片的組分X值。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于X值在0.100~0.350mo1范圍內(nèi)的碲鎘汞晶片組分X值定量測(cè)定。
Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營許可證:京ICP證110310號(hào)
頁面更新時(shí)間: 2025-01-07 15:09