CNS 11239-1985
電子組件長時(shí)間電性動作試驗(yàn)法
Endurance (Electrical) Testing Method for Electronic Component
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- CNS 11239-1985
- 發(fā)布
- 1985年
- 發(fā)布單位
- 臺灣地方標(biāo)準(zhǔn)
- 當(dāng)前最新
- CNS 11239-1985
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測定電子組件（以下簡稱組件）于規(guī)定條件下作長時(shí)間電性動作時(shí)組件所受之影響并判定其使用之適合性之試驗(yàn)方法。