pl光譜和ple光譜的區(qū)別
激發(fā)光譜（PLE）和發(fā)射光譜（PL）。激發(fā)光譜：固定發(fā)射光的波長，改變激發(fā)光的波長，記錄熒光強(qiáng)度隨激發(fā)波長的變化。發(fā)射光譜：固定激發(fā)光的波長，記錄不同發(fā)射波長處熒光強(qiáng)度隨發(fā)射波長的變化。
無論是激發(fā)還是發(fā)射熒光光譜圖，其都是記錄發(fā)射熒光強(qiáng)度隨波長的變化。如果熒光光譜中縱坐標(biāo)為強(qiáng)度，橫坐標(biāo)為波長。那么就能獲取峰位和半峰寬。峰位的直觀體現(xiàn)是熒光的顏色；半峰寬則表示熒光的純度。
光致發(fā)光光譜
光致發(fā)光光譜（Photoluminescence Spectroscopy，簡稱PL譜），指物質(zhì)在光的激勵下，電子從價(jià)帶躍遷至導(dǎo)帶并在價(jià)帶留下空穴；電子和空穴在各自的導(dǎo)帶和價(jià)帶中通過弛豫達(dá)到各自未被占據(jù)的最低激發(fā)態(tài)（在本征半導(dǎo)體中即導(dǎo)帶底和價(jià)帶頂），成為準(zhǔn)平衡態(tài)。
準(zhǔn)平衡態(tài)下的電子和空穴再通過復(fù)合發(fā)光，形成不同波長光的強(qiáng)度或能量分布的光譜圖。光致發(fā)光過程包括熒光發(fā)光和磷光發(fā)光。
光譜應(yīng)用
在激發(fā)光能量不是非常大的情況下，PL測試是一種無損的測試方法，可以快速、便捷地表征半導(dǎo)體材料的缺陷、雜質(zhì)以及材料的發(fā)光性能。
1、組分測定；對三元系或四元系合金，如InxGa1-xN等，通過PL峰位確定半導(dǎo)體材料的禁帶寬度，進(jìn)而確定材料組分x。
2、雜質(zhì)識別；通過光譜中的特征譜線位置，可以識別材料中的雜質(zhì)元素。
3、雜質(zhì)濃度測定。
4、變溫Pl可以測試材料/器件的發(fā)光效率。
5、半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命。
6、位錯等缺陷的相關(guān)作用研究。
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市場商機(jī)
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科技前沿
