四探針法測試電阻率

本專題涉及四探針法測試電阻率的標準有30條。

國際標準分類中，四探針法測試電阻率涉及到金屬材料試驗、半導體材料、電學、磁學、電和磁的測量、復合增強材料、半導體分立器件、有色金屬、建筑材料、導體材料、塑料、絕緣流體、陶瓷、試驗條件和規(guī)程綜合。

在中國標準分類中，四探針法測試電阻率涉及到金屬物理性能試驗方法、電磁計量、無線電計量、、半金屬及半導體材料分析方法、基礎(chǔ)標準與通用方法、元素半導體材料、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標準與通用方法、半金屬與半導體材料綜合、氧化物、單質(zhì)、特種陶瓷。

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• GB/T 1551-2021 硅單晶電阻率的測定 直排四探針法和直流兩探針法
• GB/T 39978-2021 納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法

國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• JJG 508-2004 四探針電阻率測試儀
• JJG 508-1987 四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程

韓國科技標準局，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• KS D 0260-1999 四點探針法測試單晶硅片電阻率的方法
• KS C 0256-2022 四點探針硅晶體及硅片電阻率測試方法
• KS L 1619-2013(2018) 四探針陣列導電陶瓷薄膜電阻率測試方法
• KS C 0256-2002(2022) 硅晶體和硅片電阻率的四點探針測試方法
• KS D 0260-1989(1994) 具有四點探針的單晶硅片的電阻率測試方法
• KS L 1619-2023 四點探針陣列導電精細陶瓷薄膜電阻率測試方法
• KS L 1619-2013(2023) 用四點探針陣列測試導電陶瓷薄膜電阻率的方法
• KS C 0256-2002(2017) 具有四點探針的硅晶體和硅晶片的電阻率測試方法

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• ASTM F84-02 測量硅片電阻率的在線四點探針測試方法
• ASTM F84-99 測量硅片電阻率的方法 在線四點探針
• ASTM F397-02 硅棒兩電極探針法電阻率測試方法

中國團體標準，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• T/CSTM 00252-2020 碳纖維體積電阻率試驗方法 四探針法
• T/CASAS 019-2021 微納米金屬燒結(jié)體電阻率測試方法 四探針法
• T/ZGIA 001-2019 石墨烯測試方法 粉體電導率的測定 四探針法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法
• GB/T 26074-2010 鍺單晶電阻率直流四探針測量方法
• GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法
• GB/T 6617-1995 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法

日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• JIS H 0612:1975 硅單晶片電阻率的測定方法.四探針法
• JIS H 0602:1995 用四點探針法對硅晶體和硅片電阻率的測試方法
• JIS K 7194:1994 用四點探針排列法測定傳導塑料電阻率的測試方法
• JIS R 1637:1998 用四點探針排列法測定傳導精細陶瓷薄膜電阻率的試驗方法

行業(yè)標準-電子，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• SJ/T 10314-1992 直流四探針電阻率測試儀通用技術(shù)條件

行業(yè)標準-有色金屬，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• YS/T 602-2007 區(qū)熔鍺錠電阻率測試方法 兩探針法
• YS/T 602-2017 區(qū)熔鍺錠電阻率測試方法 兩探針法

俄羅斯標準局，關(guān)于四探針法測試電阻率的標準

• GOST 24392-1980 單晶硅和鍺.四探針法測定電阻系數(shù)

 

可能用到的儀器設備