四探針法測電阻步驟

本專題涉及四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)有34條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法測電阻步驟涉及到金屬材料試驗(yàn)、有色金屬、半導(dǎo)體材料、復(fù)合增強(qiáng)材料、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量、半導(dǎo)體分立器件、導(dǎo)體材料、塑料、建筑材料、絕緣流體、陶瓷、農(nóng)業(yè)和林業(yè)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法測電阻步驟涉及到電磁計(jì)量、金屬物理性能試驗(yàn)方法、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、特殊炭素材料、、無線電計(jì)量、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、元素半導(dǎo)體材料、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、氧化物、單質(zhì)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電阻器、特種陶瓷。

國家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• JJG 508-2004 四探針電阻率測試儀
• JJG 508-1987 四探針電阻率測試儀檢定規(guī)程

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 1551-2021 硅單晶電阻率的測定 直排四探針法和直流兩探針法
• GB/T 39978-2021 納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 26074-2010 鍺單晶電阻率直流四探針測量方法
• GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法
• GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法
• GB/T 6617-1995 硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法

俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• GOST 24392-1980 單晶硅和鍺.四探針法測定電阻系數(shù)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS H 0612:1975 硅單晶片電阻率的測定方法.四探針法
• JIS K 7194:1994 用四點(diǎn)探針排列法測定傳導(dǎo)塑料電阻率的測試方法
• JIS H 0602:1995 用四點(diǎn)探針法對硅晶體和硅片電阻率的測試方法
• JIS R 1637:1998 用四點(diǎn)探針排列法測定傳導(dǎo)精細(xì)陶瓷薄膜電阻率的試驗(yàn)方法

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D 0260-1999 四點(diǎn)探針法測試單晶硅片電阻率的方法
• KS L 1619-2013(2018) 四探針陣列導(dǎo)電陶瓷薄膜電阻率測試方法
• KS C 0256-2022 四點(diǎn)探針硅晶體及硅片電阻率測試方法
• KS C 0256-2002(2022) 硅晶體和硅片電阻率的四點(diǎn)探針測試方法
• KS D 0260-1989(1994) 具有四點(diǎn)探針的單晶硅片的電阻率測試方法
• KS L 1619-2023 四點(diǎn)探針陣列導(dǎo)電精細(xì)陶瓷薄膜電阻率測試方法
• KS L 1619-2013(2023) 用四點(diǎn)探針陣列測試導(dǎo)電陶瓷薄膜電阻率的方法
• KS C 0256-2002(2017) 具有四點(diǎn)探針的硅晶體和硅晶片的電阻率測試方法

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM F84-99 測量硅片電阻率的方法 在線四點(diǎn)探針
• ASTM F84-02 測量硅片電阻率的在線四點(diǎn)探針測試方法
• ASTM F390-11 用共線四探針法測定金屬薄膜的薄膜電阻的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
• ASTM F397-02 硅棒兩電極探針法電阻率測試方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• YB/T 6166-2024 石墨烯薄膜 方塊電阻的測定 四探針法

河北省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• DB13/T 5255-2020 石墨烯導(dǎo)電油墨方阻的測定 四探針法

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• T/CASAS 019-2021 微納米金屬燒結(jié)體電阻率測試方法 四探針法
• T/CSTM 00252-2020 碳纖維體積電阻率試驗(yàn)方法 四探針法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• SJ/T 10314-1992 直流四探針電阻率測試儀通用技術(shù)條件

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• YS/T 602-2007 區(qū)熔鍺錠電阻率測試方法 兩探針法
• YS/T 602-2017 區(qū)熔鍺錠電阻率測試方法 兩探針法

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN 50431:1988 半導(dǎo)體材料的試驗(yàn).用探針直線排列的四探針/直流法測量單晶硅或鍺單晶體的電阻率

江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于四探針法測電阻步驟的標(biāo)準(zhǔn)

• DB32/T 4378-2022 襯底表面納米、亞微米尺度薄膜 方塊電阻的無損測試 四探針法

 

可能用到的儀器設(shè)備