如何測量顯微鏡的分辨率

本專題涉及如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)有78條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，如何測量顯微鏡的分辨率涉及到分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、有色金屬、光學(xué)和光學(xué)測量、煤、光電子學(xué)、激光設(shè)備、半導(dǎo)體分立器件、文獻(xiàn)成像象技術(shù)、塑料、長度和角度測量、機械試驗、攝影技術(shù)、電影、無機化學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，如何測量顯微鏡的分辨率涉及到稀有金屬及其合金分析方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、放大鏡與顯微鏡、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、光學(xué)計量儀器、煤炭分析方法、煤巖、光學(xué)計量、電影、照相、縮微、復(fù)印設(shè)備綜合、鏡頭、光學(xué)儀器綜合、化學(xué)、長度計量、固體燃料礦綜合。

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO/FDIS 23124:2023 表面化學(xué)分析 拉曼顯微鏡橫向和軸向分辨率的測量
• ISO 23124:2024 表面化學(xué)分析 拉曼顯微鏡橫向和軸向分辨率的測量
• ISO/DIS 23124:2023 表面化學(xué)分析 拉曼顯微鏡橫向和軸向分辨率的測量
• ISO 18337:2015 表面化學(xué)分析. 表面特征. 共焦熒光顯微鏡橫向分辨率的測量
• ISO 23420:2021 微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測定方法
• ISO 27911:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義與校準(zhǔn)
• ISO 19012-3:2015 顯微鏡. 顯微物鏡的命名. 第3部分: 光譜透射率
• ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
• ISO 11952:2019 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用SPM測定幾何量:測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)
• ISO 11952:2014 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 使用SPM測定幾何量:測量系統(tǒng)校準(zhǔn)
• ISO/DIS 19012-4 顯微鏡 顯微鏡物鏡的命名 第4部分：偏振特性

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 23124:2024 表面化學(xué)分析 拉曼顯微鏡橫向和軸向分辨率的測量
• BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
• BS ISO 18337:2015 表面化學(xué)分析. 表面特征. 共焦熒光顯微鏡橫向分辨率的測量
• 23/30420097 DC BS ISO 23124 表面化學(xué)分析 拉曼顯微鏡橫向和軸向分辨率的測量
• BS ISO 27911:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
• 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
• BS ISO 19012-3:2015 顯微鏡. 顯微物鏡的命名. 光譜透射率

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D 2713-2006 水平分辨率近場光學(xué)顯微鏡的評估方法
• KS D 2713-2016 NSOM（近場掃描光學(xué)顯微鏡）空間分辨率的評估
• KS D 2713-2016(2021) NSOM（近場掃描光學(xué)顯微鏡）空間分辨率的評估
• KS D 2713-2021 NSOM（近場掃描光學(xué)顯微鏡）空間分辨率評價
• KS E 3713-1989(1999) 如何衡量煤炭成分和微觀結(jié)構(gòu)的反射率
• KS E 3713-1989 如何衡量煤炭成分和微觀結(jié)構(gòu)的反射率
• KS C 2607-1980 如何測量半導(dǎo)體的電阻率
• KS C 2607-1974(2000) 如何測量半導(dǎo)體的電阻率
• KS M 3034-1985 如何測量導(dǎo)電塑料的電阻率
• KS M 3034-1980(2011) 如何測量導(dǎo)電塑料的電阻率
• KS B 5420-1981 照相機鏡頭.分辨率的測定
• KS B 5420-1981(2021) 攝影鏡頭分辨率的測定方法
• KS B 5629-2001 投影鏡頭的分辨率 標(biāo)準(zhǔn)測試

GSO，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• BH GSO ISO 27911:2016 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
• GSO ISO 14648-2:2015 顯微鏡的藝術(shù) 使用單一內(nèi)部顯示系統(tǒng)生成圖像的通信記錄儀的質(zhì)量保證 第2部分：如何使用
• BH GSO ISO 11039:2015 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 漂移率的測量
• OS GSO ISO 11039:2014 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 漂移率的測量
• GSO ISO 11039:2014 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 漂移率測量
• OS GSO ISO 3334:2015 顯微圖像 ISO分辨率測試圖2號 描述和用途
• BH GSO ISO 3334:2017 顯微圖像 ISO分辨率測試圖2號 描述和用途
• GSO ISO 11952:2015 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用 SPM 測定幾何量：測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)
• BH GSO ISO 11952:2017 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用 SPM 測定幾何量：測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)
• OS GSO ISO 11952:2015 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用 SPM 測定幾何量：測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)

SCC，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• AWWA WQTC55011 使用高分辨率光學(xué)顯微鏡表征腐蝕表面
• 10/30165036 DC BS ISO 27911 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
• 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
• VDI/VDE 2656 BLATT 1-2019 使用掃描探針顯微鏡確定幾何測量 測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)
• HOLDEN HN 0295-2004 干膜厚度的顯微鏡測量
• HOLDEN HN 0295-2012 干膜厚度的顯微鏡測量
• AWWA ACE54287 如何衡量效率以及如何制定提高效率的目標(biāo) 水務(wù)公司的績效基準(zhǔn)測試

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機械，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測試方法
• JB/T 9339-1999 測量顯微鏡
• JB/T 7473-1994 照相鏡頭分辨率測試圖
• JB/T 7473-2014 照相鏡頭 分辨率測試圖
• JB/T 9349-1999 工業(yè)顯微鏡用測量刀

RU-GOST R，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• GOST R ISO 27911-2015 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
• GOST 15114-1978 光學(xué)設(shè)備的顯微鏡系統(tǒng).分辨極限的目視測定法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 43846.3-2024 顯微鏡 顯微鏡物鏡的命名 第3部分：光譜透射率
• GB/T 6948-2008 煤的鏡質(zhì)體反射率顯微鏡測定方法
• GB/T 6948-1998 煤的鏡質(zhì)體反射率顯微鏡測定方法
• GB/T 42659-2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微術(shù) 采用掃描探針顯微鏡測定幾何量：測量系統(tǒng)校準(zhǔn)
• GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
• GB/T 43661-2024 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微術(shù) 用于二維摻雜物成像等用途的電掃描探針顯微鏡（ESPM，如SSRM和SCM）空間分辨的定義和校準(zhǔn)
• GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
• GB/T 43846.2-2024 顯微鏡 顯微鏡物鏡的命名 第2部分：色差校正

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS B 7158-3:2017 顯微鏡. 顯微鏡物鏡的名稱. 第3部分:光譜透射率
• JIS B 7153:1995 測量顯微鏡
• JIS B 7139-2:2008 立體顯微鏡.第2部分:立體顯微鏡的測試
• JIS B 7152:1991 生物顯微鏡物鏡及目鏡.性能的測量方法

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• AS 2486:1989 煤巖顯微組分反射率的顯微鏡測定方法
• AS 2856.3:2000 煤巖石學(xué)．煤顯微組分反射率的顯微鏡測定方法
• ISO 19012-4:2024 顯微鏡 顯微鏡物鏡的設(shè)計 第4部分：偏振特性

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• VDI/VDE 2656 Blatt 1-2006 使用掃描探針顯微鏡測定幾何量 測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)

德國機械工程師協(xié)會，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用掃描探針顯微鏡確定幾何量 測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)

ECIA - Electronic Components Industry Association，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• TEB 25-1985 數(shù)據(jù)顯示 CRT 分辨率測量技術(shù)的調(diào)查

國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• JJG 571-2004 讀數(shù)、測量顯微鏡
• JJG 571-1988 測量顯微鏡檢定規(guī)程

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM D2798-11a 煤的鏡質(zhì)體反射率顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)測定方法

IN-BIS，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• IS 4329-1967 測量（移動）顯微鏡規(guī)范

國家安全生產(chǎn)監(jiān)督管理總局，關(guān)于如何測量顯微鏡的分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• MT/T 1053-2007 測定鏡質(zhì)體反射率的顯微鏡光度計技術(shù)條件

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： 顯微鏡的分辨率如何測量，如何測量顯微鏡的分辨率，如何測量顯微鏡分辨率，顯微鏡測量系統(tǒng)的分辨率，顯微鏡的分辨率怎么測量，顯微鏡的分辨率怎樣測量，如何測量掃描儀的分辨率。

 

可能用到的儀器設(shè)備