精品国产亚洲一区二区三区大结局,日韩国产码高清综合,国产精品丝袜综合区另类,久久午夜无码午夜精品

射線x射線分析

本專題涉及射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)有362條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,射線x射線分析涉及到建筑材料、金屬材料試驗(yàn)、分析化學(xué)、無(wú)損檢測(cè)、無(wú)機(jī)化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、光學(xué)設(shè)備、水質(zhì)、鋼鐵產(chǎn)品、化工產(chǎn)品、涂料配料、耐火材料、潤(rùn)滑劑、工業(yè)油及相關(guān)產(chǎn)品、粒度分析、篩分、教育、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、有色金屬、黑色金屬、核能工程、玻璃、廢物、金屬礦、半導(dǎo)體材料、空氣質(zhì)量、詞匯、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、有色金屬產(chǎn)品、電站綜合、非金屬礦、物理學(xué)、化學(xué)、燃料、煤、醫(yī)療設(shè)備、實(shí)驗(yàn)室醫(yī)學(xué)、橡膠和塑料工業(yè)的生產(chǎn)工藝、表面處理和鍍涂、金屬的腐蝕、粉末冶金、輻射防護(hù)、土方工程、挖掘、地基構(gòu)造、地下工程、石油產(chǎn)品綜合、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、鐵合金。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,射線x射線分析涉及到水泥、金屬化學(xué)分析方法綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、無(wú)機(jī)化工原料綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、金屬物理性能試驗(yàn)方法、耐火材料綜合、教學(xué)專用儀器、重金屬及其合金分析方法、、、、、、輕金屬及其合金分析方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、潤(rùn)滑油、化學(xué)、重金屬礦、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、生產(chǎn)環(huán)境安全衛(wèi)生設(shè)施、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、建材產(chǎn)品綜合、篩分、篩板與篩網(wǎng)、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、地球科學(xué)、潤(rùn)滑脂、特種玻璃、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器綜合、光學(xué)測(cè)試儀器、電力試驗(yàn)技術(shù)、特種耐火材料、堿性耐火材料、核儀器與核探測(cè)器綜合、電子元件綜合、輻射防護(hù)儀器、固體燃料礦綜合、有色金屬及其合金產(chǎn)品綜合、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法、土壤環(huán)境質(zhì)量分析方法、鋼鐵與鐵合金分析方法、石油地質(zhì)勘探、物理學(xué)與力學(xué)、冶金輔助原料礦、核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、煤炭分析方法、焦炭、石油產(chǎn)品綜合、輻射防護(hù)監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)、稀有輕金屬及其合金、輕金屬及其合金、放射性金屬礦、燃料油、通用核儀器、顏料、硅質(zhì)耐火材料、鐵礦、放射源、合成樹(shù)脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、混凝土、集料、灰漿、砂漿、基本有機(jī)化工原料、液體介質(zhì)與植物、動(dòng)物、人體器官采樣方法、工業(yè)廢水、污染物分析方法、同位素與放射源綜合、土壤、肥料綜合、顏料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法、輕金屬礦、教育、學(xué)位、學(xué)銜。


國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法
  • GB/T 16597-2019 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告

國(guó)家質(zhì)檢總局,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
  • GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
  • GB/T 30904-2014 無(wú)機(jī)化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
  • GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定
  • GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
  • GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
  • GB/T 19140-2003 水泥X射線熒光分析通則
  • GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
  • GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/T 16597-1996 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 5225-1985 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
  • GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E1085-22 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-22 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E3294-22 用粉末X射線衍射法對(duì)地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D2332-13(2021) 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法分析水成沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E3309-21 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法(SEM/EDS)報(bào)告法醫(yī)底漆槍彈殘留物(pGSR)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E572-21 通過(guò)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2021) 通過(guò)X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4927-20 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法對(duì)潤(rùn)滑劑和添加劑成分進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法鋇鈣磷硫鋅
  • ASTM E1588-20 通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM D7343-20 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM D4927-15(2020) 潤(rùn)滑劑和添加劑成分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法—;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM E539-19 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1255-18 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7343-18 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM F2980-13(2017) 用現(xiàn)場(chǎng)便攜式X射線熒光(XRF)分析玻璃中重金屬的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D8127-17e1 使用用于在線潤(rùn)滑劑的X射線熒光(XRF)的耦合顆粒和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D8127-17 使用用于在線潤(rùn)滑劑的X射線熒光(XRF)的耦合顆粒和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D7343-12(2017) 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM E1588-17 通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1588-2017 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D8127-2017 利用X射線熒光(XRF)對(duì)在用潤(rùn)滑劑進(jìn)行顆粒物和元素耦合分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D8064-16 使用多個(gè)單色激發(fā)光束的單色能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行土壤和固體廢物元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6052-97(2016) 通過(guò)能量分散X射線熒光法制備和元素分析液體危險(xiǎn)廢物的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1588-16a 通過(guò)掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1085-16 通過(guò)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1588-16 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析槍彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1085-2016 采用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1588-2016 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D4927-15 潤(rùn)滑劑和添加劑成分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法—;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM D5839-15 通過(guò)能量分散X射線熒光光譜法對(duì)危險(xiǎn)廢物燃料進(jìn)行痕量元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4927-2015 潤(rùn)滑劑和添加劑元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法. 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇, 鈣, 磷, 硫和鋅的含量
  • ASTM D5839-2015 采用能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中微量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D4927-14 潤(rùn)滑劑和添加劑成分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法—用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM D5380-93(2014) 通過(guò)X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4927-2014 采用波長(zhǎng)色散的X-射線熒光光譜法對(duì)潤(rùn)滑油和添加劑元素鋇, 鈣, 磷, 硫和鋅進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-13 通過(guò)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-13 通過(guò)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2465-13 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F2980-13 用現(xiàn)場(chǎng)便攜式X射線熒光(XRF)分析玻璃中重金屬的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-13 通過(guò)波長(zhǎng) - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM F2980-2013(2017) 用現(xiàn)場(chǎng)便攜式X射線熒光(XRF)分析玻璃種重金屬的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-2013 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM F2980-2013 用現(xiàn)場(chǎng)便攜式X射線熒光 (XRF) 分析玻璃種重金屬的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-2013 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-2013 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E572-2013 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7343-12 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM E572-12 通過(guò)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7343-2012 石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析用X射線熒光光譜法的優(yōu)化, 制樣, 校正和鑒定的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E322-2012 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析低合金鋼和鑄鐵的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-2012 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1255-11 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-11 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-11e1 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-2011 利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-2011e1 用 X 射線光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-2011 用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1255-2011 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D4927-10 潤(rùn)滑劑和添加劑組分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法&8212;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM E1588-10 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析槍彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-10e1 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析槍彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-2010e1 掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D4927-2010 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法對(duì)潤(rùn)滑劑和鋇、鈣、磷、硫以及鋅等添加組分急性元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-09 X射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2009) 通過(guò)X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1085-2009 用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-08 通過(guò)波長(zhǎng) - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1588-08 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析槍彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D6052-97(2008) 通過(guò)能量分散X射線熒光法制備和元素分析液體危險(xiǎn)廢物的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D2332-2008 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D7343-07 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM E1588-07 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析槍彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-07e1 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法分析槍彈殘留物的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-2007e1 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D7343-2007 石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析用X射線熒光光譜法的優(yōu)化、制樣、校正和鑒定的實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E539-2007 6鋁4釩鈦合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1588-2007 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E539-06 6Al-4V鈦合金的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006) X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006)e2 X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-06 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-2006 用X射線熒光光譜測(cè)定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-2006 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-05 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1255-93(2005) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D4927-05 潤(rùn)滑劑和添加劑組分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法&8212;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM D4927-2005 潤(rùn)滑劑和添加劑元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.波長(zhǎng)色散的X射線熒光光譜測(cè)定法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅含量
  • ASTM E1085-95(2004)e1 低合金鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-95(2004) 低合金鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6247-98(2004) 用X射線熒光光譜法分析聚烯烴中元素含量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-04 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-2004 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-2004(2009) 用X 射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2003) 通過(guò)X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C1110-03 用玻璃熔接或壓粉法對(duì)礦石中鈾進(jìn)行X射線發(fā)射光譜分析用樣品制備的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D6052-97(2003) 通過(guò)能量分散X射線熒光法制備和元素分析液體危險(xiǎn)廢物的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C1110-2003(2008) 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標(biāo)準(zhǔn)方法
  • ASTM C1110-2003 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾的X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范
  • ASTM E572-02a X射線熒光光譜法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D4927-02 潤(rùn)滑劑和添加劑組分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法&8212;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM E539-90(1996)e1 6AI-4V鈦合金的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-02 6AI-4V鈦合金的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-2002a(2006)e2 用X射線熒光光譜測(cè)定法分析不銹鋼和合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-2002 X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM B761-2002e1 通過(guò)對(duì)重力沉積物進(jìn)行X射線照射分析測(cè)定金屬粉末和相關(guān)化合物的粒度分布的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D4927-2002 潤(rùn)滑油和添加劑元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用波長(zhǎng)色散的X-射線熒光光譜測(cè)定法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅的含量
  • ASTM E1361-2002(2007) X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1361-2002(2014)e1 X射線光譜測(cè)定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E539-2002 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D4927-96 潤(rùn)滑劑和添加劑組分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法&8212;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM D4927-01 潤(rùn)滑劑和添加劑組分元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法&8212;用波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅
  • ASTM D5839-96 通過(guò)能量分散X射線熒光光譜法對(duì)危險(xiǎn)廢物燃料進(jìn)行痕量元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D5839-96(2001) 通過(guò)能量分散X射線熒光光譜法對(duì)危險(xiǎn)廢物燃料進(jìn)行痕量元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4927-2001 潤(rùn)滑油和添加劑元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用波長(zhǎng)色散的X-射線熒光光譜測(cè)定法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅的含量
  • ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-95(2000) 低合金鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-94(1999) X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D2332-84(1999) 通過(guò)波長(zhǎng) - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM C1255-93(1999) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-99 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-1999 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6247-98 用X射線熒光光譜法分析聚烯烴中元素含量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1365-1998 用X射線粉末衍射分析測(cè)定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣的階段比例的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6247-1998 用X射線熒光度譜術(shù)對(duì)聚烯烴內(nèi)元素含量分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6247-1998(2004) 用X射線熒光度譜術(shù)對(duì)聚烯烴內(nèi)元素含量分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1110-88(1997)e1 用玻璃熔接或壓粉法對(duì)礦石中鈾進(jìn)行X射線發(fā)射光譜分析用樣品制備的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D6052-97 通過(guò)能量分散X射線熒光法制備和元素分析液體危險(xiǎn)廢物的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6052-1997 通過(guò)能量分散X-射線熒光性對(duì)液體有害廢物制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6052-1997(2008) 通過(guò)能量分散X-射線熒光性對(duì)液體有害廢物制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6052-1997(2003) 通過(guò)能量分散X-射線熒光性對(duì)液體有害廢物制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4927-1996 潤(rùn)滑油和添加劑元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用波長(zhǎng)色散的X-射線熒光光譜測(cè)定法測(cè)定鋇、鈣、磷、硫和鋅的含量
  • ASTM D5839-1996(2006) 能量發(fā)散X射線熒光光譜法分析危險(xiǎn)廢油中痕量元素的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-1995(2004) 金屬的X射線輻射光譜測(cè)定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E996-1994(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
  • ASTM D5380-93(1998) 通過(guò)X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C1255-1993(2005) 用能量色散X射線熒光光譜法分析土壤中鈾和釷的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-1993(2009) 用X射線繞射分析識(shí)別涂料中結(jié)晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F1375-1992(2012) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜儀 (EDX) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-1990(1996)e1 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測(cè)定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1110-1988(1997)e1 使用玻璃熔化或壓制粉末法制備礦石中鈾的X射線發(fā)射光譜分析用樣品的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
  • ASTM D2332-84(2003) 通過(guò)波長(zhǎng) - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM D2332-1984(2003) 用波長(zhǎng)色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM E1621 - 13 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2465-19 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D8064 - 16 使用多個(gè)單色激發(fā)光束的單色能量色散X射線熒光光譜法進(jìn)行土壤和固體廢物元素分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-2016a 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 22863-4:2021 焰火.特殊化學(xué)物質(zhì)測(cè)定的試驗(yàn)方法.第4部分:用X射線熒光光譜法(XRF)分析鉛和鉛化合物
  • ISO 15632:2021 微束分析.與掃描電子顯微鏡(SEM)或電子探針顯微分析儀(EPMA)一起使用的能量色散X射線光譜儀(EDS)規(guī)范和檢查用選定儀器性能參數(shù)
  • ISO 17867-2020 粒度分析.小角度X射線散射(SAXS)
  • ISO 10810-2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
  • ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
  • ISO 16169:2018 用ISO 12677 X射線熒光法(XRF)制備分析用碳化硅和類似材料-熔鑄珠法
  • ISO 22489-2016 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析.電子光譜法.用X射線光電子能譜法分析的材料中X射線非預(yù)期降解的評(píng)定和校正程序
  • ISO 18554-2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
  • ISO 16258-2:2015 工作場(chǎng)所空氣 - 通過(guò)X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 - 第2部分:間接分析方法
  • ISO 16258-1:2015 工作場(chǎng)所空氣 - 通過(guò)X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 - 第1部分:直接過(guò)濾法
  • ISO 16258-1-2015 工作場(chǎng)所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第1部分: 直接過(guò)濾法
  • ISO 16258-2-2015 工作場(chǎng)所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第2部分: 間接分析法
  • ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 - 全反射X射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
  • ISO/TS 18507-2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • ISO 17867-2015 粒徑分析. 小角X射線散射
  • ISO 17867:2015 粒度分析 - 小角度X射線散射
  • ISO 18118-2015 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南
  • ISO 17470:2014 微束分析——電子探針微量分析——波長(zhǎng)色散X射線光譜法定性點(diǎn)分析指南
  • ISO 17470-2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)定法定性點(diǎn)分析指南
  • ISO 13424-2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
  • ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜;薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
  • ISO 15632-2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 15632:2012 微束分析——用于電子探針微分析的能量色散X射線光譜儀規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • ISO/TS 10798-2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
  • ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜;分析指南
  • ISO 10810-2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
  • ISO 17054:2010 通過(guò)X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • ISO 17054-2010 用X射線熒光光譜法(XRF)近似技術(shù)分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • ISO 20565-1-2008 含鉻耐火材料產(chǎn)品和含鉻原材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第1部分:裝置、試劑、重量分析硅石的溶解和測(cè)定
  • ISO 10058-1-2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).第1部分:儀器、試劑、重量分析二氧化硅的分解和測(cè)定
  • ISO 22489-2006 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 17470:2004 微束分析.電子探針微量分析.波長(zhǎng)色散X射線光譜法定性點(diǎn)分析指南
  • ISO 17470-2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
  • ISO 18118-2004 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南
  • ISO/TR 19319-2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
  • ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.用分析儀觀察橫向分辨率 分析面積和樣品面積的測(cè)定
  • ISO 15632-2002 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 15632:2002 微束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量色散X射線光譜儀的儀器規(guī)范
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析.小角X射線散射法
  • ISO/TS 13762-2001 粒度分析 小角度X射線濺射法
  • ISO 12980-2000 鋁生產(chǎn)用碳素材料 電極用生焦和煅燒焦 X射線熒光分析
  • ISO 12980:2000 用于鋁生產(chǎn)的碳質(zhì)材料——電極用生焦和煅燒焦——X射線熒光法分析

工業(yè)和信息化部,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
  • YS/T 1344.3-2020 摻錫氧化銦粉化學(xué)分析方法 第3部分:物相分析 X射線衍射分析法
  • YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
  • YS/T 1160-2016 工業(yè)硅粉定量相分析 二氧化硅含量的測(cè)定 X射線衍射K值法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測(cè)定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
  • JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測(cè)定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則

,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

安徽省市場(chǎng)監(jiān)督管理局,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DB34/T 3368.1-2019 印制電路板中有害物質(zhì)分析方法 第 1 部分:鉛、汞、鉻、鎘和溴 的快速篩選 X 射線熒光光譜法

國(guó)防科工局,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • EJ/T 1212.3-2018 燒結(jié)氧化釓-二氧化鈾芯塊分析方法 第3部分:波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法測(cè)定三氧化二釓含量

國(guó)家能源局,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • SY/T 5163-2018 沉積巖中黏土礦物和常見(jiàn)非黏土礦物X射線衍射分析方法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 22489-2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • BS ISO 18554-2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
  • BS ISO 16258-2-2015 工作場(chǎng)所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
  • BS ISO 16258-1-2015 工作場(chǎng)所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 直接過(guò)濾法
  • BS ISO 16258-2-2015 工作場(chǎng)所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
  • BS ISO 16258-1-2015 工作場(chǎng)所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 直接過(guò)濾法
  • BS PD ISO/TS 18507-2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • BS PD ISO/TS 18507-2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • BS ISO 17867-2015 粒徑分析. 小角X射線散射
  • BS ISO 18118-2015 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性系數(shù)的使用指南
  • BS ISO 17470-2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長(zhǎng)分散X射線光譜測(cè)定法的定性點(diǎn)分析指南
  • BS ISO 13424-2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
  • BS ISO 13424-2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
  • BS ISO 15632-2012 微束分析. 用于電子探針顯微分析的能量分散X射線光譜儀規(guī)范和檢查用所選儀器性能參數(shù)
  • BS DD ISO/TS 10798-2011 毫微技術(shù).利用掃描電子顯微鏡和能量色散X射線光譜法分析得出單層碳納米管的表示特征
  • BS ISO 10810-2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
  • BS ISO 10810-2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
  • BS EN 10315-2006 臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法
  • BS EN ISO 20565-1-2008 含鉻耐火材料產(chǎn)品和含鉻原材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).裝置、試劑、重量分析硅石的溶解和測(cè)定
  • BS EN ISO 10058-1-2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).儀器、試劑和分解及重量分析二氧化硅的測(cè)定
  • BS EN 15305-2008 無(wú)損檢驗(yàn).使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • BS ISO 22489-2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • BS EN 10315-2006 (2010) 臨近技術(shù)使用的X射線熒光光譜法(XRF)高合金鋼分析的常規(guī)方法
  • BS ISO 18118-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性系數(shù)的使用指南
  • BS DD ISO/TS 13762-2002 粒徑分析.小角度X射線散射法
  • BS 6870-3-1989 鋁礦石分析.第3部分:采用波長(zhǎng)色散式X射線熒光法對(duì)多元素分析的方法
  • BS 1902-9.2-1987 耐火材料試驗(yàn)方法.第9.2部分:儀器化學(xué)分析法.第2節(jié):用X射線熒光光譜法分析硅質(zhì)耐火材料

國(guó)土資源部,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DZ/T 0279.10-2016 區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第10部分:氯和溴量測(cè)定 粉末壓片——X射線熒光光譜法
  • DZ/T 0279.1-2016 區(qū)域地球化學(xué)樣品分析方法 第1部分:三氧化二鋁等24個(gè)成分量測(cè)定 粉末壓片—X射線熒光光譜法

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN ISO 15632-2015 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范(ISO 15632-2012)
  • DIN 51418-2-2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
  • DIN 51829-2013 石油產(chǎn)品.測(cè)定潤(rùn)滑脂中的添加元素和磨損元素.波長(zhǎng)色散X射線光譜法(XRS)分析
  • DIN IEC 62495-2011 核儀器.使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設(shè)備(IEC 62495-2011)
  • DIN 51729-10-2011 固體燃料的試驗(yàn).燃料灰分化學(xué)組成的測(cè)定.第10部分:X射線熒光分析
  • DIN EN ISO 10058-1-2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).第1部分:重量分析二氧化硅的儀器,試劑,分解和測(cè)定(ISO 10058-1-2008).德文版本EN ISO 10058-1-2008
  • DIN EN ISO 20565-1-2009 含鉻耐火材料產(chǎn)品和含鉻原材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第1部分:裝置、試劑、重量分析硅石的溶解和測(cè)定
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1-2009 無(wú)損檢驗(yàn) 使用X射線衍射法進(jìn)行分析殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • DIN EN 15305-2009 無(wú)損檢測(cè).X射線衍射法對(duì)殘余應(yīng)力分析用試驗(yàn)方法
  • DIN 51396-2-2008 潤(rùn)滑劑的試驗(yàn).磨損元件的測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)彌散X射線熒光分析(XRS)
  • DIN 51418-1-2008 X射線光譜測(cè)定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
  • DIN EN 10315-2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法
  • DIN 51790-7-2002 液體燃料試驗(yàn).釩和鎳含量測(cè)定.第7部分:波長(zhǎng)色散X射線光譜法(XRS)和基本參數(shù)法分析
  • DIN 51418-2 Bb.1-2000 X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及對(duì)結(jié)果評(píng)定的基本原理.附加信息和計(jì)算范例
  • DIN 55912-2 Bb.1-1999 顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析測(cè)定次要成分的實(shí)例
  • DIN 55912-2 Bb.2-1999 顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析法制定校準(zhǔn)曲線
  • DIN 51396-2-1998 潤(rùn)滑劑的試驗(yàn).磨損元件的測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)彌散X射線熒光分析(XRS)
  • DIN 51390-2-1997 礦物油制品試驗(yàn).硅含量測(cè)定.第2部分:波長(zhǎng)耗散X射線螢光分析(RFA)法
  • DIN 51418-2-1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
  • DIN 51418-1-1996 X光射線光譜測(cè)定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
  • DIN 51577-4-1994 礦物油碳?xì)浠衔锖皖愃飘a(chǎn)品的檢驗(yàn).氯和溴含量的測(cè)定.用低價(jià)格儀器的能量散射X射線光譜儀分析

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • SN/T 3321.3-2015 石灰石和白云石分析方法 第3部分:主次成分含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法
  • SN/T 2079-2008 不銹鋼及合金鋼分析方法X-射線熒光光譜法

廣東省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS K0152-2014 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜分析. 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
  • JIS K0152-2014 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜分析. 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
  • JIS K0189-2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定
  • JIS K0189-2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測(cè)定
  • JIS K0167-2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感因子的使用指南
  • JIS G1256 AMD 1-2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS G1256 AMD 1-2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS K0190-2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
  • JIS T0306-2002 用X射線光電子光譜法分析金屬生物材料形成的無(wú)源膜的狀態(tài)
  • JIS M8205-2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
  • JIS K0131-1996 X射線衍射計(jì)測(cè)量分析的通用規(guī)則
  • JIS H1669-1990 鋯合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS G1351-1987 鐵合金的X射線熒光光譜測(cè)定分析方法
  • JIS M8205-1983 鐵礦石熒光X射線分析方法
  • JIS G1256-1982 鋼鐵的熒光X射線分析方法
  • JIS G1204-1978 鋼鐵熒光X射線分析方法的通用規(guī)則

安徽省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DB34/T 2127.2-2014 區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查樣品分析方法 第2 部分:X 射線熒光光譜法多元素含量的測(cè)定

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • YS/T 869-2013 4A沸石化學(xué)成分分析方法 X射線熒光法
  • YS/T 806-2012 鋁及鋁合金中稀土分析方法.X-射線熒光光譜法測(cè)定.鑭、鈰、鐠、釹、釤含量
  • YS/T 483-2005 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長(zhǎng)色散型)

韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS D ISO 15632-2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • KS D ISO 15632-2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • KS L ISO 20565-1-2012 含鉻耐火材料產(chǎn)品和含鉻原材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第1部分:裝置、試劑、重量分析硅石的溶解和測(cè)定
  • KS L ISO 10058-1-2012 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).第1部分:儀器、試劑、重量分析二氧化硅的分解和測(cè)定
  • KS D ISO 22489-2012 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
  • KS D ISO 22489-2012 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長(zhǎng)色散X射線光譜測(cè)量法定量分析塊狀樣品
  • KS E ISO 10086-1-2007 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).儀器、試劑和分解及重量分析二氧化硅的測(cè)定
  • KS E ISO 10086-1-2007 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).儀器、試劑和分解及重量分析二氧化硅的測(cè)定
  • KS D ISO 18118-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南
  • KS D ISO 19319-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
  • KS D ISO 18118-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質(zhì)材料定量分析用實(shí)驗(yàn)室測(cè)定相對(duì)敏感性因子的使用指南
  • KS D ISO 19319-2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
  • KS M ISO 12980-2004 鋁生產(chǎn)用碳質(zhì)材料.電極用未煅燒焦炭和煅燒焦炭.用X射線熒光光譜法分析
  • KS M ISO 12980-2004 鋁生產(chǎn)用碳質(zhì)材料.電極用未煅燒焦炭和煅燒焦炭.用X射線熒光光譜法分析

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF X21-008-2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測(cè)器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格
  • NF X21-071-2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則
  • NF A09-185-2009 無(wú)損檢測(cè).用X射線衍射對(duì)殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • NF B49-435-1-2009 含鉻耐火材料產(chǎn)品和含鉻原材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第1部分:重量分析硅石的裝置、試劑、液化和測(cè)定
  • NF X21-006-2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長(zhǎng)色散X-射線光譜測(cè)量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • NF S92-502-2006 醫(yī)用生物分析實(shí)驗(yàn)室.人類輻射學(xué).肺計(jì)數(shù).低能X-射線和α-射線發(fā)射器(小于200 keV)
  • NF A06-377-2006 用帶新技術(shù)的X射線熒光光譜測(cè)定法(XRF)分析高合金鋼的通用方法
  • NF X21-003-2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長(zhǎng)分布X射線光譜測(cè)量法定量分析指南
  • NF A09-285-1999 無(wú)損試驗(yàn).通過(guò)X射線衍射進(jìn)行殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • NF X11-683-1981 液體內(nèi)變高度重力沉積粉末顆粒分析.X射線吸收測(cè)量法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分:X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

國(guó)際電工委員會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC 62495:2011 核儀器 - 使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設(shè)備
  • IEC 62495-2011 核監(jiān)測(cè)儀表.利用微型X-射線管的便攜式X-射線熒光分析設(shè)備
  • IEC 61335:1997 核儀器 - 用于X射線熒光分析的孔眼裝置

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • PD CEN/TR 10354-2011 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測(cè)定硅和鋁
  • EN 15305-2008 無(wú)損檢驗(yàn).使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗(yàn)方法.合并勘誤表-2009年1月
  • EN ISO 10058-1-2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可代替X射線熒光法).第1部分:儀器,試劑,溶解和重量分析硅石的測(cè)定[代替:CEN EN ISO 10058]
  • EN ISO 20565-1-2008 含鉻耐火制品和含鉻原材料的化學(xué)分析(可代替X射線熒光法).第1部分:儀器,試劑,溶解和重量分析硅石的測(cè)定
  • EN 10315-2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • SY/T 5163-2010 沉積巖中黏土礦物和常見(jiàn)非黏土礦物X射線衍射分析方法
  • SY/T 5163-1995 沉積巖粘土礦物相對(duì)含量X射線衍射分析方法
  • SY/T 5163-2018 沉積巖粘土礦物相對(duì)含量X射線衍射分析方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • EJ/T 1212.3-2008 燒結(jié)氧化釓-二氧化鈾芯塊分析方法.第3部分:波長(zhǎng)色散x射線熒光光譜法測(cè)定氧化釓含量
  • EJ/T 1068-1998 X射線熒光分析用钚238源
  • EJ/T 1067-1998 X射線熒光分析用镅241源
  • EJ/T 805-1993 X射線熒光分析用低能光子源

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金,關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
  • ANSI/ASTM D6247-1998 通過(guò)X射線熒光光譜法對(duì)聚烯烴中元素含量分析的試驗(yàn)方法

福建省地方標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DB35/T 110-2000 油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • AS 4392.1-1996 重礦砂.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析.鈦礦砂
  • AS 4392.2-1997 重礦砂.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析.誥石材料
  • AS ISO 18118-2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法.均質(zhì)材料定量分析中實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏系數(shù)使用指南
  • AS 4392.2-1997 重礦砂.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法分析.誥石材料
  • AS ISO 19319-2006 表面化學(xué)分析.Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法.分析員對(duì)橫向分辨率;分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)
  • AS 1038.14.3-1999 煤和焦炭.分析和測(cè)試.較高職級(jí)粉煤灰和焦炭灰分.主要和次要因素.波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì),關(guān)于射線x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)

  • DZ/T 0370-2021 便攜式X射線熒光現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)規(guī)程

射線x射線分析,射線分析單晶x-射線分析,+++++射線分析儀射線分析儀,x射線分析 ,射線分析儀器,七x射線分析,螢光x射線分析熒光x射線分析,單晶x射線分析,能量色散 x-射線分析x射線分析 方法,全反射x射線分析,手持式x射線分析,x射線分析 儀器,x 射線分析儀器,射線分類、,射線分類。

 

可能用到的儀器設(shè)備

 

HORIBA DeltaFlex超快時(shí)間分辨熒光光譜儀

HORIBA DeltaFlex超快時(shí)間分辨熒光光譜儀

HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

 

HORIBA DeltaPro超快時(shí)間分辨熒光光譜儀

HORIBA DeltaPro超快時(shí)間分辨熒光光譜儀

HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

 

愛(ài)丁堡LifeSpec II超快零時(shí)間色散皮秒熒光壽命光譜儀

愛(ài)丁堡LifeSpec II超快零時(shí)間色散皮秒熒光壽命光譜儀

天美儀拓實(shí)驗(yàn)室設(shè)備(上海)有限公司

 

Ultima 超快時(shí)間分辨熒光光譜儀

Ultima 超快時(shí)間分辨熒光光譜儀

HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

 

OMA-3010微量CL2分析儀

OMA-3010微量CL2分析儀

聚光科技(杭州)股份有限公司

 

 




Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證:京ICP證110310號(hào)



| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |