x-射線能譜定量分析
本專題涉及x-射線能譜定量分析的標(biāo)準(zhǔn)有6條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x-射線能譜定量分析涉及到分析化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、光學(xué)設(shè)備。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x-射線能譜定量分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x-射線能譜定量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 30702-2014 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x-射線能譜定量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 18118:2015 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.均勻材料定量分析用實(shí)驗(yàn)測(cè)定相對(duì)靈敏度因子的使用指南
，關(guān)于x-射線能譜定量分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實(shí)驗(yàn)測(cè)定的相對(duì)靈敏度因子的使用指南
