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電子和x射線光電子能譜儀
本專題涉及電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)有17條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子和x射線光電子能譜儀涉及到無損檢測、分析化學(xué)、長度和角度測量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子和x射線光電子能譜儀涉及到光學(xué)測試儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置。
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測到的信號的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
- BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于電子和x射線光電子能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
