如何測(cè)量電磁輻射

本專(zhuān)題涉及如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)有330條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，如何測(cè)量電磁輻射涉及到集成電路、微電子學(xué)、電磁兼容性(EMC)、塑料、電阻器、半導(dǎo)體分立器件、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、量和單位、物理學(xué)、化學(xué)、分析化學(xué)、建筑材料、環(huán)境保護(hù)、聲學(xué)和聲學(xué)測(cè)量、煤、電工器件、通風(fēng)機(jī)、風(fēng)扇、空調(diào)器、化工產(chǎn)品、力、重力和壓力的測(cè)量、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、土方機(jī)械、紡織產(chǎn)品、電信設(shè)備用部件和附件、輻射測(cè)量、電子管、鐵路工程綜合、航空器和航天器綜合、無(wú)損檢測(cè)、詞匯、輻射防護(hù)、道路車(chē)輛裝置、半導(dǎo)體材料、移動(dòng)業(yè)務(wù)、涂料和清漆、電工和電子試驗(yàn)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，如何測(cè)量電磁輻射涉及到半導(dǎo)體集成電路、電磁計(jì)量、電磁兼容、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、量和單位、微電路綜合、技術(shù)管理、控制繼電器、繼電器、斬波器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法、天線(xiàn)及其饋線(xiàn)、輻射防護(hù)與監(jiān)測(cè)綜合、醫(yī)用射線(xiàn)設(shè)備、輻射防護(hù)監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)、電真空器件綜合、鐵路建筑設(shè)備綜合、鐵路車(chē)輛綜合、核設(shè)施的輻射安全、物理污染分析測(cè)試方法、物理學(xué)與力學(xué)、數(shù)據(jù)通信設(shè)備、毛坯布及制品、金屬物理性能試驗(yàn)方法、工業(yè)自動(dòng)化與控制裝置綜合、。

SCC，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• CEI EN IEC 61967-8:2023 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第8部分:輻射輻射測(cè)量 IC帶狀線(xiàn)法
• DANSK DS/EN IEC 61967-8:2023 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第8部分:輻射輻射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• DANSK DS/EN 61967-6:2003 集成電路 150 kHz 1 GHz 電磁輻射測(cè)量 第6部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 磁探針?lè)?/li>
• DANSK DS/EN 61967-8:2011 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• 09/30191130 DC BS EN 61967-8 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第8部分 輻射輻射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• DIN EN IEC 61967-8 E:2024 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第8部分：輻射輻射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法 (IEC 47A/1136/CD:2022) 草案
• AENOR UNE 73303:1999 電磁輻射的放射防護(hù)量級(jí)
• CEI EN IEC 61967-4:2022 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第4部分:傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1Ω/150Ω直接耦合法
• BS EN 61000-4-3:1997 電磁兼容性（EMC） 測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• CEI EN 61967-8:2012 集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• CEI EN 61967-2:2006 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量、TEM 室和寬帶 TEM 室方法
• DANSK DS/EN 61967-2:2005 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM 室和寬帶 TEM 室方法
• IEC 61000-4-3:1995+AMD1:1998+AMD2:2000 CSV 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DANSK DS/EN 61000-4-3:2006 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• CEI EN 61000-4-3:2007 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DANSK DS/EN 61000-4-3/A2:2006 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• CSA IEC 61000-4-3021 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• CAN/CSA-CEI/IEC 61000-4-3-2007(R2011) 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• IEC 61000-4-3:2002+AMD1:2002 CSV 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• IEC 61000-4-3:1995+AMD1:1998 CSV 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• UNE-EN 61000-4-3:2003 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• CEI EN IEC 61000-4-3:2021 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DANSK DS/EN IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• AENOR UNE-EN 61000-4-3:2007 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DIN EN IEC 61967-4:2023 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第4部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1 Ω/150 Ω 直接耦合法 (IEC 61967-4:2021)
• CAN/CSA-CEI/IEC 61000-4-3-2001(R2005) 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• CEI EN 61000-4-3/A2:2007 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• AENOR UNE-EN 61000-4-3/A2:2011 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• AENOR UNE-EN 61000-4-3/A1:2008 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DIN IEC /TS 61967-3:2015 集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第3部分：輻射發(fā)射測(cè)量 表面掃描法 (IEC/TS 61967-3:2014)
• BS ISO 31-6:1992 數(shù)量和單位 光和相關(guān)電磁輻射
• DANSK DS/EN 61967-4:2002 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第4部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1 歐姆/150 歐姆直接耦合法
• DANSK DS/EN IEC 61967-4:2021 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第4部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 1 Ω/150 Ω 直接耦合法
• UNE 73303:1999 電磁輻射的放射防護(hù)等級(jí)
• AS/NZS 61000.4.3:1999 電磁兼容性（EMC） 第4-3部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 輻射射頻電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• BS 4892:1973 使用熱電堆輻射計(jì)測(cè)量熱輻射指南
• DIN IEC 61967-8 E:2009 集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)方法 (IEC 47A/810/CD:2009) 草案
• IEC 61000-4-3:2002/AMD1:2002 修改件1 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DANSK DS/EN IEC 61967-1:2019 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第1部分：一般條件和定義
• CEI EN IEC 61967-1:2019 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第1部分：一般條件和定義
• ANSI C82.77-3-2020 美國(guó)國(guó)家照明設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) 電磁兼容性 (EMC) 測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• IEC 61000-4-3:1995/AMD2:2000 修改件2 電磁兼容性 (EMC) 第4部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 第3節(jié)：輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• IEC 61000-4-3:1995/AMD1:1998 修改件1 電磁兼容性 (EMC) 第4部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 第3節(jié)：輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• MIL MIL-HDBK-240A-2011 電磁輻射對(duì)軍械的危害測(cè)試指南
• CIE 250:2022 光輻射源的光譜輻射測(cè)量
• AWWA ACE54287 如何衡量效率以及如何制定提高效率的目標(biāo) 水務(wù)公司的績(jī)效基準(zhǔn)測(cè)試
• DANSK DS/EN 61967-5:2003 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 1 GHz 第5部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 工作臺(tái)法拉第籠法
• DIN IEC /TS 61967-3 E:2012 集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第3部分：輻射發(fā)射測(cè)量 表面掃描方法集成電路 (IEC 47A/880/CD:2012) 草案
• AENOR UNE-ENV 50204:1996 數(shù)字無(wú)線(xiàn)電話(huà)輻射的電磁場(chǎng) 免疫測(cè)定
• UNE-ENV 50204:1996 數(shù)字無(wú)線(xiàn)電話(huà)的輻射電磁場(chǎng) 免疫測(cè)試
• CIE 239:2020 光輻射源的測(cè)角光譜輻射測(cè)量
• DIN 6809-1 E:2008 臨床劑量測(cè)定 第1部分：光子和電子輻射的輻射質(zhì)量 有用輻射 草案
• CEI EN 61967-5:2004 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第5部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 工作臺(tái)法拉第籠法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• PD IEC/TS 61967-3:2014 集成電路 電磁輻射測(cè)量 輻射發(fā)射的測(cè)量 表面掃描法
• BS PD IEC/TS 61967-3:2014 集成電路.電磁輻射的測(cè)量.放射形輻射測(cè)量.表面掃描法
• BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.放射形輻射測(cè)量.表面掃描法
• BS EN 61967-6:2002+A1:2008 集成電路.150 kHz到1 GHz電磁輻射測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)輻射測(cè)量.磁探測(cè)器法
• BS EN IEC 61967-4:2021 集成電路. 電磁輻射測(cè)量. 第4部分: 電導(dǎo)輻射測(cè)量. 1～150Ω直接耦合法
• BS EN 61967-2:2005 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放的測(cè)量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法
• BS EN 61967-6:2002 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.磁性探測(cè)法
• BS EN IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性（EMC） 測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• BS EN 61000-4-3:2006 電磁兼容性(EMC).測(cè)試和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• BS EN 61967-4:2002 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第4部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.1ohm/150ohm直接耦合法
• BS EN IEC 61967-1:2019 集成電路 電磁輻射測(cè)量 一般條件和定義
• BS EN 61000-4-3:2006+A2:2010 電磁兼容性(EMC).試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• BS EN IEC 61000-4-11:2020 電磁兼容性(EMC). 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù). 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• BS EN IEC 61000-6-1:2019 電磁兼容性(EMC). 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù). 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• BS EN IEC 61000-3-11:2019 電磁兼容性(EMC). 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù). 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• BS EN IEC 61000-6-2:2019 電磁兼容性(EMC). 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù). 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• BS EN 61000-4-3:2002 電磁兼容性(EMC).試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射,射頻和電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• BS EN 61967-8:2011 集成電路.電磁排放的測(cè)量.輻射發(fā)射的測(cè)定.IC帶狀線(xiàn)方法
• BS EN 60255-25:2000 繼電器.測(cè)量繼電器和保護(hù)設(shè)備的電磁輻射試驗(yàn)
• BS EN 61967-1:2002 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.一般條件和定義
• PD IEC/TS 62132-9:2014 集成電路 電磁抗擾度的測(cè)量 輻射抗擾度的測(cè)量 表面掃描法
• BS PD IEC/TS 62132-9:2014 集成電路. 電磁抗擾度的測(cè)量. 輻射抗擾度的測(cè)量. 表面掃描法
• 17/30356883 DC BS EN 61000-4-3 電磁兼容性（EMC） 第4-3部分 測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• BS EN 61000-4-20:2011 電磁兼容性（EMC） 試驗(yàn)和測(cè)量方法 橫向電磁（TEM）波導(dǎo)輻射和抗擾試驗(yàn)
• BS EN 61000-4-20:2010 電磁兼容性(EMC).試驗(yàn)和測(cè)量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)輻射和抗擾試驗(yàn)
• BS EN 61000-4-39:2017 電磁兼容性（EMC） 測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射場(chǎng)非常接近 免疫測(cè)試
• 12/30244420 DC BS ISO 13304 輻射防護(hù) 用于電離輻射回顧性劑量測(cè)定的電子順磁共振 (EPR) 波譜的最低標(biāo)準(zhǔn)
• 24/30439873 DC 道路車(chē)輛 窄帶輻射電磁能電氣干擾的車(chē)輛測(cè)試方法 車(chē)外輻射源

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• NF C96-260-6*NF EN 61967-6:2003 集成電路 150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量 第6部分：傳導(dǎo)輻射的測(cè)量 磁探測(cè)器法
• NF C96-260-2*NF EN 61967-2:2006 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:TEM輻射室和寬頻TEM輻射室法的輻射測(cè)量
• NF C96-260-8*NF EN 61967-8:2012 集成電路 電磁輻射的測(cè)量 第8部分：放射輻射的測(cè)量 IC帶狀線(xiàn)法
• NF EN 61967-6:2003 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 磁探針?lè)?/li>
• NF C96-260-4/A1*NF EN 61967-4/A1:2006 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射的測(cè)量.第4部分:傳導(dǎo)輻射測(cè)量.1Ω～150Ω直接耦合法
• NF EN 61967-6/A1:2008 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 磁探針?lè)?/li>
• NF X02-206:1993 量和單位 .電磁輻射和光學(xué)
• NF EN 61967-2:2006 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 2 部分：輻射發(fā)射測(cè)量 - TEM 室方法和寬帶 TEM 室
• NF EN 61967-8:2012 集成電路 - 電磁發(fā)射測(cè)量 - 第 8 部分：輻射發(fā)射測(cè)量 - IC 帶狀線(xiàn) TEM 方法
• NF C96-260-5*NF EN 61967-5:2003 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第5部分:工作臺(tái)法拉第籠法測(cè)量感應(yīng)輻射
• NF C96-260-4*NF EN IEC 61967-4:2021 集成電路 電磁輻射的測(cè)量 第4部分：傳導(dǎo)輻射的測(cè)量 1 Ω/150 Ω直接耦合法
• NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 集成電路.電磁抗擾性測(cè)定.第2部分:抗輻射干擾性測(cè)量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法
• NF EN IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性 (EMC) - 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) - 射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• NF C91-004-3*NF EN IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• NF C96-260-4*NF EN 61967-4:2002 集成電路 150 kHz 1GHz 電磁輻射的測(cè)量 第4部分：傳導(dǎo)輻射的測(cè)量 1 歐姆/150 歐姆直接耦合法
• NF EN IEC 61967-4:2021 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量 - 第 4 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 直接耦合法 1 Ω/150 Ω
• NF EN IEC 61967-8:2023 集成電路 - 電磁發(fā)射的測(cè)量 - 第 8 部分：輻射發(fā)射的測(cè)量 - 集成電路的 TEM 帶狀線(xiàn)方法
• NF C91-004-3/A1:2003 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• NF C91-004-3/A2*NF EN 61000-4-3/A2:2011 電磁兼容性（EMC）第4-3部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• NF C91-004-3/A1*NF EN 61000-4-3/A1:2008 電磁兼容性（EMC）第4-3部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• NF F07-021:1992 鐵路固定設(shè)備和車(chē)輛.電磁干擾.輻射場(chǎng)的測(cè)量
• NF C91-004-3:2002 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾性試驗(yàn)
• NF C91-004-3*NF EN 61000-4-3:2006 電磁兼容性（EMC）第4-3部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾性試驗(yàn)
• NF EN IEC 61967-1:2019 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量 - 第 1 部分：一般條件和定義
• NF C96-260-1*NF EN IEC 61967-1:2019 集成電路 電磁輻射的測(cè)量 第1部分：一般條件和定義
• NF C45-205:2001 繼電器.第25部分:繼電器和保護(hù)設(shè)備測(cè)量用電磁輻射試驗(yàn)

ES-UNE，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• UNE-EN 61967-8:2011 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• UNE-EN IEC 61967-8:2023 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量 - 第 8 部分：輻射發(fā)射測(cè)量 - IC 帶狀線(xiàn)法
• UNE-EN 61967-6:2002 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 磁探針?lè)?/li>
• UNE-EN 61967-6:2002/A1:2008 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 磁探針?lè)?/li>
• UNE-EN 61967-2:2005 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM 室和寬帶 TEM 室方法
• UNE-EN IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性(EMC)第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• UNE-EN IEC 61967-4:2021 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第4部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 1 ?/150 ? 直接耦合法
• UNE-EN IEC 61967-1:2019 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第1部分：一般條件和定義
• UNE-EN 61967-5:2003 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150kHz 至 1 GHz 第5部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 工作臺(tái)法拉第籠法

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• KS M 3034-1980(2011) 如何測(cè)量導(dǎo)電塑料的電阻率
• KS M 3034-1985 如何測(cè)量導(dǎo)電塑料的電阻率
• KS C 6024-1995(2000) 如何測(cè)量晶體管
• KS C 6024-1985 如何測(cè)量晶體管
• KS C 2607-1980 如何測(cè)量半導(dǎo)體的電阻率
• KS C 2607-1974(2000) 如何測(cè)量半導(dǎo)體的電阻率
• KS C 0264-2003 電磁兼容性-測(cè)試和測(cè)量技術(shù)-輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• KS M 3048-1990(2001) 如何測(cè)量導(dǎo)熱膠的重量
• KS M 3826-1993(1999) 如何測(cè)量氯在含氯樹(shù)脂
• KS M 3006-2003(2008) 如何測(cè)量塑料拉伸性能
• KS C 0264-1995(2000) EMC與測(cè)試和測(cè)量方法 - 輻射 高頻電磁場(chǎng)電阻
• KS C IEC 61000-4-3-2017 電磁兼容性(EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• KS F 2814-1986 如何根據(jù)體外方法測(cè)量建材的垂直入射吸收系數(shù)
• KS C 9610-4-3-2017 電磁兼容性（EMC） 》第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 》輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• KS I 2208-2008(2013) 如何測(cè)量大氣中的二氧化碳
• KS C 9610-4-3-2022 電磁兼容性（EMC）第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù)輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• KS C IEC 61006-2008(2013) 如何測(cè)量電絕緣材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度
• KS M 3041-2006(2011) 如何測(cè)量結(jié)晶聚合物的熔點(diǎn)
• KS F 2814-1996 如何根據(jù)體外方法測(cè)量建材的垂直入射吸收系數(shù)
• KS E 3713-1989(1999) 如何衡量煤炭成分和微觀結(jié)構(gòu)的反射率
• KS E 3713-1989 如何衡量煤炭成分和微觀結(jié)構(gòu)的反射率
• KS D 2571-1987(1997) 如何測(cè)量氧化鋁的物理性能
• KS F 8115-1999(2009) 土方機(jī)械的如何重心位置測(cè)量
• KS K 0795-2006 如何測(cè)量平針織物的傾斜角度
• KS A 4042-1982 電離室輻射測(cè)量?jī)x
• KS A 4042-1976(1997) 電離室輻射測(cè)量?jī)x
• KS C 9610-4-3-2017(2022) 電磁兼容性（EMC）.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• KS C IEC 61000-4-3:2013 電磁兼容性(EMC).第4.3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾性試驗(yàn)
• KS A ISO 31-6-2001(2006) 量和6單位-部分:光及有關(guān)電磁輻射
• KS W 2013-1977(2010) 如何測(cè)量的重量和重力中心的飛機(jī)的重量
• KS A 4042-2001 電離室型輻射測(cè)量?jī)x
• KS C 6822-2000(2010) 光纖放大器測(cè)量第2部分:如何測(cè)量功率參數(shù)
• KS M 5971-1999 如何溶劑型油漆的干膜的電阻測(cè)試

GSO，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO IEC 60440:2013 如何測(cè)量電阻器的非線(xiàn)性
• BH GSO IEC 61967-2:2016 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM 室和寬帶 TEM 室方法
• OS GSO IEC 61967-2:2015 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM 室和寬帶 TEM 室方法
• GSO IEC 61967-2:2015 集成電路 電磁輻射測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM 室方法和寬帶 TEM 室
• OS GSO IEC/TS 61967-3:2015 集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量 第3部分：輻射發(fā)射的測(cè)量 表面掃描法
• GSO IEC/TS 61967-3:2015 集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量 第3部分：輻射發(fā)射的測(cè)量 表面掃描法
• GSO IEC 61967-8:2014 集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射的測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• BH GSO IEC 61000-4-3:2016 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• OS GSO IEC 61000-4-3:2008 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• GSO ISO 14695:2007 工業(yè)風(fēng)扇如何測(cè)量風(fēng)扇振動(dòng)
• GSO IEC 61000-4-3:2008 電磁兼容性 (EMC)：第 (4-3) 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射抗擾度測(cè)試、射頻場(chǎng)和電磁場(chǎng)
• GSO BS 7882:2010 如何校準(zhǔn)和分類(lèi)扭矩測(cè)量裝置
• BH GSO IEC 60562:2016 電子管入射電離輻射的測(cè)量
• GSO IEC 60562:2014 電子管入射電離輻射的測(cè)量
• OS GSO IEC 60562:2014 電子管入射電離輻射的測(cè)量

國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC 61967-2:2005 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放測(cè)量.TEM輻射室和寬頻TEM輻射室法
• IEC TS 61967-3:2014 集成電路.電磁輻射的測(cè)量.第3部分:放射形輻射測(cè)量.表面掃描法
• IEC 61967-8:2011 集成電路的電磁輻射測(cè)量.第8部分:IC帶狀線(xiàn)法測(cè)量輻射干擾
• IEC 61967-6:2002 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)放射測(cè)量.磁探測(cè)器法
• IEC 61967-4:2006 集成電路.150kHz～1GHz電磁輻射測(cè)量.第4部分:電導(dǎo)輻射測(cè)量.1～150Ω直接耦合法
• IEC 47A/912/CD:2013 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成電路.電磁輻射測(cè)量.第3部分:輻射發(fā)射測(cè)量.表面掃描法
• IEC TS 61967-3:2005 集成電路.150 kHz 到 1 GHz電磁輻射的測(cè)量.第3部分:放射形輻射測(cè)量.表面掃描法
• IEC 61967-6:2002/COR1:2010 集成電路.150 kHz-1 GHz電磁輻射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)放射測(cè)量.磁探測(cè)器法
• IEC 61967-5:2003 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第5部分:感應(yīng)輻射測(cè)量.工作臺(tái)法拉第筒法
• IEC 61967-8:2023 RLV 集成電路.電磁發(fā)射的測(cè)量.第8部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.IC帶狀線(xiàn)法
• IEC 61967-8:2023 集成電路.電磁發(fā)射的測(cè)量.第8部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.IC帶狀線(xiàn)法
• IEC 47A/880/CD:2012 集成電路.電磁發(fā)射的測(cè)量.第3部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.表面掃描法
• IEC 61000-4-3:1995 電磁兼容性(EMC).第4部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).第3節(jié):輻射,輻射頻率和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:2001 電磁兼容性.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量方法.輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:1998 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量方法.射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:2002 電磁兼容性.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾性試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:2006+AMD1:2007+AMD2:2010 CSV 電磁兼容性（EMC）.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性（EMC）.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:2006+AMD1:2007 CSV 電磁兼容性（EMC）.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• IEC 61967-1:2018 集成電路電磁輻射測(cè)量第1部分:一般條件和定義
• IEC 47A/900/CD:2013 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成電路.電磁發(fā)射的測(cè)量.第3部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.表面掃描法
• IEC 47A/925/DTS:2014 IEC/TS 61967-3, Ed. 2:集成電路.電磁發(fā)射的測(cè)量.第3部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.表面掃描法
• IEC 61000-4-3:2008 電磁兼容性(EMC) 第4-3部分 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗干擾試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3:2006 電磁兼容性.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)的抗擾性試驗(yàn)
• IEC 61000-4-3/AMD1:1998 電磁兼容性(EMC).第4部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).第3節(jié):輻射,輻射頻率和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn).第1次修訂
• IEC 61566:1997 射頻電磁場(chǎng)輻照測(cè)量 頻率范圍從100kHz～1GHz間的場(chǎng)強(qiáng)
• IEC 61967-1:2018 RLV 集成電路.電磁輻射的測(cè)量.第1部分:一般條件和定義
• IEC TR 61967-4-1:2005 集成電路.150KHz - 1GHz電磁輻射測(cè)量.第4-1部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.1<0hm>/150<0hm>直接耦合法.IEC 61967-4 應(yīng)用指南
• IEC 61000-4-3/AMD2:2000 電磁兼容性.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)干擾試驗(yàn).修改件2
• IEC 61000-4-3:2010 電磁兼容性.第4-3部分:測(cè)試和測(cè)量技術(shù).輻射,無(wú)線(xiàn)電頻率,電磁場(chǎng)地抗干擾測(cè)試
• IEC 61000-4-3:2006/AMD2:2010 電磁兼容性(EMC).第43部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)干擾試驗(yàn).修改件2
• IEC 60801-3:1984 工業(yè)過(guò)程測(cè)量和控制設(shè)備的電磁兼容性.第3部分:輻射電磁場(chǎng)要求

歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• EN 61967-8:2011 集成電路.電磁輻射的測(cè)量.第8部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.IC帶狀線(xiàn)法
• EN IEC 61967-4:2021 集成電路 電磁輻射測(cè)量 第4部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1°150°直接耦合法
• EN 61967-2:2005 集成電路.150 kHz至1 GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放測(cè)量.TEM輻射室和寬頻帶TEM輻射室法 IEC 61967-2:2005
• EN 61000-4-3:2006/IS1:2009 電磁兼容性(EMC)第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• EN 61967-6:2002 集成電路.150 kHz至1 GHz電磁輻射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.磁性探測(cè)法;包含修改件A1:2008年5月
• EN 61967-5:2003 集成電路.150 kHz至1 GHz電磁輻射的測(cè)量.第5部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.工作臺(tái)法拉第筒法 IEC 61967-5-2003

SAE - SAE International，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• SAE J551-1995 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J551-1983 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J551-1979 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J551-1981 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J551-1985 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J551-1990 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J1113-22-2003 車(chē)輛部件的電磁兼容性測(cè)量程序 第22部分輻射磁場(chǎng)的抗擾度

美國(guó)機(jī)動(dòng)車(chē)工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• SAE J551A-1968 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J551A-1972 機(jī)動(dòng)車(chē)電磁輻射測(cè)量（20-1000 MHz）
• SAE J1113/22-2010 車(chē)輛部件的電磁兼容性測(cè)量程序-第 22 條-輻射磁場(chǎng)抗擾度
• SAE J1113/22-2003 車(chē)輛部件的電磁兼容性測(cè)量程序.第22部分:抗磁場(chǎng)輻射干擾
• SAE J1113/22-1996 車(chē)輛部件的電磁兼容性測(cè)量程序 第22部分 輻射磁場(chǎng)抗擾度
• SAE J1113/27-1995 車(chē)輛元件電磁兼容性的測(cè)量過(guò)程.第27部分:輻射電磁區(qū)的抗干擾性

國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GJB 5313A-2017 電磁輻射暴露限值和測(cè)量方法
• GJB 5313-2004 電磁輻射暴露限值和測(cè)量方法
• GJB 1748-1993 核輻射監(jiān)測(cè)實(shí)用輻射量

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN 61967-6:2008 集成電路.頻率為150kHz～1GHz的電磁輻射的測(cè)量.第6部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.探磁針?lè)椒?/li>
• DIN EN 61967-4 Berichtigung 1:2007 集成電路.150～1kHz電磁輻射測(cè)量.第4部分:用1/150Ω直接耦合法測(cè)量傳導(dǎo)輻射量
• DIN IEC/TS 61967-3:2015 集成電路. 電磁輻射的測(cè)量. 第3部分: 輻射發(fā)射的測(cè)量. 表面掃描法(IEC/TS 61967-3-2014)
• DIN EN 61967-2:2006 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第2部分:輻射釋放測(cè)量.TEM輻射室和寬頻TEM輻射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
• DIN IEC/TS 61967-3:2012 集成電路. 電磁輻射的測(cè)量. 第3部分: 輻射發(fā)射的測(cè)量. 表面掃描法. 集成電路(IEC 47A/880/CD-2012)
• DIN EN 61967-5:2003 集成電路.150kHz-1GHz電磁輻射的測(cè)量.第5部分:傳導(dǎo)輻射的測(cè)量.工作臺(tái)法拉第筒法
• DIN EN 61967-6:2008-10 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz - 第 6 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 磁探針?lè)?(IEC 61967-6:2002 + A1:2008)
• DIN EN 61967-8:2012 集成電路.電磁輻射的測(cè)量.第8部分:輻射發(fā)射的測(cè)量.集成電路條狀線(xiàn)方法(IEC 61967-8-2011).德文版本 EN 61967-8-2011
• DIN 6800-2 Berichtigung 1:2010 光輻射和電子輻射用探頭式探測(cè)器劑量測(cè)定程序.第2部分:高能光輻射和電子輻射的電離室劑量測(cè)定
• DIN 6800-2:2008 光輻射和電子輻射用探頭式探測(cè)器劑量測(cè)定程序.第2部分:高能光輻射和電子輻射的電離室劑量測(cè)定
• DIN EN 61000-4-3:2008 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻和電磁場(chǎng)干擾試驗(yàn)
• DIN IEC 60562:1980-05 電子管入射電離輻射的測(cè)量
• DIN IEC 60562:1980 電子管入射電離輻射的測(cè)量

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• AS/NZS IEC 61000.4.3:2013 電磁兼容性 (EMC) 測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• AS/NZS IEC 61000.4.3:2021 電磁兼容性 (EMC) 第 4.3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試

臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• CNS 14676-3-2002 電磁兼容－測(cè)試與量測(cè)技術(shù)－第3部：輻射、射頻、電磁場(chǎng)免疫力測(cè)試
• CNS 14676.3-2002 電磁兼容－測(cè)試與量測(cè)技術(shù)－第３部：輻射、射頻、電磁場(chǎng)免疫力測(cè)試
• CNS 11296.6-1985 光學(xué)與相關(guān)電磁輻射之單位及量
• CNS 11296-6-1985 光學(xué)與相關(guān)電磁輻射之單位及量

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• GB/T 17626.3-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• GB/T 17626.3-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• GB 3102.6-1993 光及有關(guān)電磁輻射的量和單位
• GB/T 17626.3-2023 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第3部分：射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
• GB/T 6833.10-1987 電子測(cè)量?jī)x器電磁兼容性試驗(yàn)規(guī)范 輻射干擾試驗(yàn)
• GB/T 6833.5-1987 電子測(cè)量?jī)x器電磁兼容性試驗(yàn)規(guī)范 輻射敏感度試驗(yàn)
• GB/T 42968.8-2023 集成電路 電磁抗擾度測(cè)量 第8部分：輻射抗擾度測(cè)量 IC帶狀線(xiàn)法
• GB/T 26383-2011 抗電磁輻射精梳毛織品
• GB/T 17619-1998 機(jī)動(dòng)車(chē)電子電器組件的電磁輻射抗擾性限值和測(cè)量方法

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• BS EN IEC 61967-8:2023 集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 輻射發(fā)射測(cè)量 IC帶狀線(xiàn)法（英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)）
• ANSI C63.5-2017 電磁兼容性.磁干擾(EMI)控制中輻射測(cè)量.天線(xiàn)的校準(zhǔn)(9 kHz - 40GHz)
• ANSI C63.5-2006 電磁兼容性.磁干擾(EMI)控制中輻射測(cè)量.天線(xiàn)的校準(zhǔn)(9 kHz - 40GHz)

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• LST EN 61967-6-2003/A1-2008 集成電路 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz 第6部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 磁探針?lè)ǎ↖EC 61967-6:2002/A1:2008）
• LST EN 61967-8-2012 集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射的測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法（IEC 61967-8:2011）
• LST EN 61967-6-2003 集成電路 測(cè)量 150 kHz 至 1 GHz 的電磁輻射 第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射的測(cè)量 磁性探針?lè)ǎ↖EC 61967-6:2002）
• LST EN IEC 61000-4-3:2021 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2020）
• LST EN 61000-4-3-2006/IS1-2009 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2006）
• LST EN 61000-4-3-2006 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2006）
• LST EN IEC 61967-4:2021 集成電路 - 電磁輻射測(cè)量 - 第 4 部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 - 1 /150 直接耦合法 (IEC 61967-4:2021)
• LST EN 61967-4-2003/A1-2006 集成電路 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz 第4部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1 ohm/150 ohm 直接耦合法（IEC 61967-4:2002/A1:2006）
• LST EN 61967-4-2003/A1-2006/AC-2007 集成電路 電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz 第4部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量 1 ohm/150 ohm 直接耦合法（IEC 61967-4:2002/A1:2006）
• LST EN 61000-4-3-2006/A2-2010 電磁兼容性（EMC）- 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2006/A2:2010）
• LST EN 61000-4-3-2006/A1-2008 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2006/A1:2007）

美國(guó)焊接協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• AWS FACT SHEET NO. 17-1996 電磁輻射(EMF)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航天，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• QJ 2350-1992 電磁輻射敏感度的測(cè)試方法 橫電磁波傳輸室測(cè)量
• QJ 1954-1990 太陽(yáng)電磁輻射

IN-BIS，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• IS 10052 Pt.3-1983 電磁干擾測(cè)量裝置和測(cè)量方法規(guī)范 第3部分電磁干擾的輻射測(cè)量

ETSI - European Telecommunications Standards Institute，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• TR 102 151-2003 智能卡； SIM卡電磁輻射測(cè)量； （V6.0.0；版本 6）
• TS 103 051-2011 電磁兼容性和無(wú)線(xiàn)電頻譜問(wèn)題（ERM）；輻射電磁場(chǎng)測(cè)量的擴(kuò)展測(cè)量不確定度（V1.1.1）

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DS/EN 61967-8:2011 集成電路 電磁發(fā)射的測(cè)量 第8部分：輻射發(fā)射的測(cè)量 IC 帶狀線(xiàn)法
• DS/EN 61000-4-3/A2:2010 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DS/EN IEC 61000-4-3:2020 電磁兼容性（EMC） 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DS/EN 61000-4-3:2006 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DS/EN 61000-4-3/A1:2008 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• DS/EN 61967-4/A1:2006 集成電路《電磁輻射測(cè)量，150 kHz 至 1 GHz》第4部分：傳導(dǎo)輻射測(cè)量《1 ohm/150 ohm 直接耦合法》
• DS/ISO 31/6:1984 光學(xué)與有關(guān)電磁輻射的量值與單位
• DS/IEC 801-3:1987 工業(yè)過(guò)程測(cè)量和控制設(shè)備的電磁兼容性.第3部分:輻射電磁場(chǎng)要求

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• IEEE C63.5-1988 電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn) 電磁干擾（EMI）控制中的輻射發(fā)射測(cè)量 天線(xiàn)校準(zhǔn)

AENOR，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• UNE-EN 61000-4-3:2007/A1:2008 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• UNE-EN 61000-4-3:2007/A2:2011 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• UNE-EN 61000-4-3:2007 電磁兼容性（EMC）- 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2006）
• UNE 20627:1979 電子管電離輻射的測(cè)量

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS C 61000-4-3:2022 電磁兼容性 (EMC) 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
• JIS C 1000-4-3:1997 電磁兼容性(EMC).第4部分:測(cè)試和測(cè)量技術(shù).第3節(jié):輻射、射頻和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)
• JIS C 61000-4-3:2012 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾性試驗(yàn)
• JIS C 61000-4-3:2004 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• JIS C 61000-4-3:2005 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾性試驗(yàn)
• JIS Z 4614:1993 用電離輻射的測(cè)量?jī)x器的輻射源容器

SE-SIS，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• SIS SS IEC 801-3:1988 工業(yè)過(guò)程測(cè)量及控制設(shè)備電磁適應(yīng)性．輻射電磁場(chǎng)要求

北京市地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DB11/T 2017-2022 射頻電磁輻射車(chē)載巡測(cè)技術(shù)規(guī)范

國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 3102.6-1993 光及有關(guān)電磁輻射的量和單位

CZ-CSN，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• CSN 01 1306-1986 光及有關(guān)電磁輻射的量和單位

BE-NBN，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• NBN X 02-106-1990 光及有關(guān)電磁輻射的量和單位

IEC - International Electrotechnical Commission，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC 61000-4-3 INT 1:2008 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射 射頻 電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（3.0 版）

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 17626.22-2017 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量

ZA-SANS，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• SANS 61000-4-3:2006 電磁兼容性（EMC）．第4．3部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)．輻射，射頻和電磁場(chǎng)干擾試驗(yàn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-環(huán)保，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• HJ/T 10.2-1996 輻射環(huán)境保護(hù)管理導(dǎo)則.電磁輻射監(jiān)測(cè)儀器和方法
• HJ 1199-2021 短波廣播發(fā)射臺(tái)電磁輻射環(huán)境監(jiān)測(cè)方法
• HJ 1136-2020 中波廣播發(fā)射臺(tái)電磁輻射環(huán)境監(jiān)測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 31-6:1980 光和相關(guān)電磁輻射的數(shù)量和單位
• ISO 31-6:1992 量和單位 第6部分:光及有關(guān)電磁輻射

KR-KS，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• KS C IEC 61000-4-3-2013 電磁兼容性第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

工業(yè)和信息化部，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• YD/T 1536-2018 電信設(shè)備的電磁輻射信息泄露要求和測(cè)量方法

中華人民共和國(guó)環(huán)境保護(hù)部，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GB 8702-1988 電磁輻射防護(hù)規(guī)定

加拿大標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• CSA IEC 61000-4-3-01-CAN/CSA:2001 電磁兼容性（EMC） 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試第一版
• CSA IEC 61000-4-3-07-CAN/CSA:2007 電磁兼容性(EMC).第4-3部分:測(cè)試與測(cè)量技術(shù)射頻電磁輻射抗擾性試驗(yàn).第2版
• CSA CEI 61000-4-3-07-CAN/CSA-2007 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試場(chǎng)抗擾度

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• SJ 2534.13-1987 天線(xiàn)測(cè)試方法.電磁輻射的危害
• SJ/Z 9013-1987 電子管電離輻射的測(cè)量

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• EN 61000-4-3:2002 電磁兼容性.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射,射頻和電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• EN 61000-4-3:1996 電磁兼容性.第4-3部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).輻射,射頻和電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
• DD ENV 50140-1993 電磁兼容性 基本抗擾度標(biāo)準(zhǔn) 輻射 射頻電磁場(chǎng) 抗擾度測(cè)試
• EN IEC 61967-1:2019 集成電路 電磁輻射的測(cè)量 第1部分：一般條件和定義
• DD ENV 50204-1995 數(shù)字無(wú)線(xiàn)電話(huà)的輻射電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試

IET - Institution of Engineering and Technology，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GEOMET THEO DIFF ELECTRO WAV-1979 電磁波衍射的幾何理論

RO-ASRO，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• STAS 10027/1-1985 通過(guò)電子手段的電離輻射檢測(cè)和測(cè)量．輻射測(cè)量組件術(shù)語(yǔ)
• STAS R 12641-1988 電離輻射測(cè)量系統(tǒng)厚度測(cè)量
• SR ISO 31-6:1995 量和單位．第6部分：光及有關(guān)電磁輻射

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN 6800-2 E:2019-07 光輻射和電子輻射用探頭式探測(cè)器劑量測(cè)定程序 第2部分：高能光輻射和電子輻射的電離室劑量測(cè)定
• ANSI/ASABE S640-2017 植物（光合生物）電磁輻射的數(shù)量和單位

PL-PKN，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• PN-EN IEC 61000-4-3-2021-06 E 電磁兼容性（EMC）- 第 4-3 部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) - 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（IEC 61000-4-3:2020）
• PN T06260-1974 電磁輻射源安全標(biāo)志

RU-GOST R，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• GOST IEC 61000-4-3-2016 電磁兼容性(EMC). 第4-3部分. 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù). 輻射, 射頻和電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

浙江省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DB33/T 2553-2022 電磁輻射環(huán)境自動(dòng)監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范

YU-JUS，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• JUS N.R1.199-1988 電子管電離輻射的測(cè)量

歐洲電信標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• ETSI TR 102 151-2003 智能卡.SIM卡的電磁輻射測(cè)量.版本6.0.0.第6次發(fā)布

TH-TISI，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• TIS 1453-2009 電磁兼容性(EMC).第4部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).第3節(jié):輻射,射頻和電磁場(chǎng)抗擾試驗(yàn)

美國(guó)國(guó)防部標(biāo)準(zhǔn)化文件（含MIL標(biāo)準(zhǔn)），關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DOD MIL-HDBK-240 A-2011 電磁輻射對(duì)軍事測(cè)試的危害指南
• DOD MIL-HDBK-240-2002 軍用器材(HERO)電磁輻射危險(xiǎn)測(cè)試指南

DIN，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN 61000-4-3:2006 電磁兼容性 (EMC) 第4-3部分：測(cè)試和測(cè)量技術(shù) 輻射、射頻、電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) (IEC 61000-4-3:2006)

河南省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• DB41/T 1275-2016 手機(jī)信號(hào)屏蔽器電磁輻射監(jiān)測(cè)方法

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于如何測(cè)量電磁輻射的標(biāo)準(zhǔn)

• VDI/VDE 2600 Blatt 5-1973 計(jì)量學(xué)（測(cè)量技術(shù)） 用于描述測(cè)量設(shè)備如何工作的術(shù)語(yǔ)

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可能用到的儀器設(shè)備