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x射線光電子能譜儀:
本專題涉及x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)有23條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子能譜儀:涉及到分析化學(xué)、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、長(zhǎng)度和角度測(cè)量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線光電子能譜儀:涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電子測(cè)量與儀器綜合。
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)（ISO 15472:2010）；英文文本
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)方法
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
KR-KS，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準(zhǔn)
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結(jié)合能量標(biāo)尺的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
- ASTM E902-94(1999) 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E1217-11(2019) 用于確定在俄歇電子能譜儀和一些X射線光電子能譜儀中檢測(cè)到的信號(hào)的樣品區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀部分性能參數(shù)說明
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于x射線光電子能譜儀:的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
