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納米微粒粒徑分析
本專題涉及納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)有68條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米微粒粒徑分析涉及到物理學(xué)、化學(xué)、分析化學(xué)、空氣質(zhì)量、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、粒度分析、篩分、醫(yī)療設(shè)備、化工產(chǎn)品、道路車輛裝置、檢查、維修和試驗(yàn)設(shè)備。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米微粒粒徑分析涉及到合成材料綜合、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器綜合、稀有金屬及其合金分析方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、衛(wèi)生、氣象學(xué)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器、篩分、篩板與篩網(wǎng)、螺塞、管件、環(huán)境衛(wèi)生。
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E2834-12(2018) 納米粒子追蹤分析（NTA）測(cè)量懸浮液中納米材料粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2834-12(2022) 納米粒子追蹤分析（NTA）測(cè)量懸浮液中納米材料粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2834-12 用納米粒子跟蹤分析法 (NTA) 測(cè)量懸浮物中納米材料粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E2524-08 納米顆粒溶血性能分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2524-22 分析納米粒子溶血性能的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2524-08(2013) 分析納米粒子溶血性能的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D8526-23 使用透射電子顯微鏡測(cè)定環(huán)境大氣中碳納米管和含碳納米管顆粒濃度的分析程序的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E2490-08 光子相關(guān)光譜法測(cè)定懸浮體納米材料粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)指南（PCS）
- ASTM E2490-09(2021) 光子相關(guān)光譜法測(cè)定懸浮體納米材料粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)指南（PCS）
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- PD ISO/TS 23151:2021 納米技術(shù) 纖維素納米晶體的粒徑分布
- BS EN ISO 28439:2011 工作場所空氣.工作場所超細(xì)懸浮微粒/納米懸浮微粒的描述.用差示電遷移率分析系統(tǒng)測(cè)定粒徑分布和數(shù)量濃度
- BS ISO 19749:2021 納米技術(shù) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 21363:2020 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS PD ISO/TR 23173:2021 表面化學(xué)分析 電子光譜學(xué) 納米顆粒涂層厚度和成分的測(cè)量
- PD ISO/TR 23173:2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 納米粒子涂層的厚度和成分的測(cè)量
- BS 3406-4:1993 粒徑分布測(cè)定方法.第4部分:顯微鏡和成象分析方法指南
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 16232-7:2007 道路車輛.液壓管路部件清潔度.顯微分析測(cè)量粒徑和計(jì)數(shù)
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測(cè)量－透射電子顯微鏡
- KS I ISO 28439:2013 工作場所空氣.超細(xì)懸浮微粒/納米懸浮微粒的描述.用差示電遷移率分析系統(tǒng)測(cè)定粒徑分布和數(shù)量濃度
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測(cè)量技術(shù).透射電子顯微鏡
- KS I ISO 28439:2019 車間空氣超細(xì)氣溶膠/納米氣溶膠的特性用微分電遷移率分析系統(tǒng)測(cè)定粒度分布和數(shù)濃度
KR-KS，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測(cè)量-透射電子顯微鏡
- KS C ISO 19749-2023 納米技術(shù)——用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- KS C ISO 21363-2023 納米技術(shù)——用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- KS I ISO 28439-2019 車間空氣超細(xì)氣溶膠/納米氣溶膠的特性用微分電遷移率分析系統(tǒng)測(cè)定粒度分布和數(shù)濃度
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 43196-2023 納米技術(shù) 掃描電子顯微術(shù)測(cè)量納米顆粒粒度及形狀分布
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/ISO 19749:2021 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
- DS/ISO 15900:2020 粒徑分布的測(cè)定 氣溶膠顆粒的微分電遷移率分析
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布
- XP CEN ISO/TS 19590:2019 納米技術(shù) - 通過單顆粒模式誘導(dǎo)等離子體質(zhì)譜法測(cè)定水介質(zhì)中無機(jī)納米顆粒的粒徑分布和濃度
- NF T16-404:2020 納米技術(shù). 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布
- NF EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) - 通過掃描電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布
- NF EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布
- NF R19-501-7:2011 道路車輛.液壓管路部件清潔度.第7部分:顯微分析測(cè)量粒徑和計(jì)數(shù).
- NF EN ISO 21083-1:2018 測(cè)量空氣過濾介質(zhì)對(duì)球形納米材料效率的測(cè)試方法 第1部分：20nm 至 500nm 的粒徑譜
- NF EN ISO 28439:2011 工作場所空氣 超細(xì)氣溶膠/納米氣溶膠的表征 使用微分電遷移率分析系統(tǒng)測(cè)定顆粒尺寸分布和數(shù)量濃度
PH-BPS，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- PNS ISO 19007:2021 納米技術(shù).測(cè)量納米顆粒細(xì)胞毒性作用的體外MTS分析
- PNS ISO 21363:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-氣象，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- QX/T 72-2007 大氣亞微米顆粒物粒度譜分布電遷移分析法
AT-ON，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- OENORM EN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- prEN ISO 21363:2021 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）
- EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
- EN ISO 19749:2023 納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- EN ISO 28439:2011 工作場所環(huán)境.極細(xì)微氣溶膠/納米氣溶膠特征描述.利用微分電氣流動(dòng)分析系統(tǒng)進(jìn)行粒度分布和計(jì)數(shù)濃度測(cè)定
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) – 使用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和顆粒形狀分布
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 21363:2020 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案
- ISO 19749:2021 納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- ISO/TR 23173:2021 表面化學(xué)分析.電子光譜法.納米顆粒涂層厚度和成分的測(cè)量
- ISO 28439:2011 工作場所環(huán)境.極細(xì)微氣溶膠/納米氣溶膠特征描述.利用微分電氣流動(dòng)分析系統(tǒng)進(jìn)行粒度分布和計(jì)數(shù)濃度測(cè)定
- ISO 16232-7:2007 道路車輛.液壓管路部件清潔度.第7部分:顯微分析測(cè)量粒徑和計(jì)數(shù)
ES-UNE，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN ISO 19749:2023 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
- UNE-EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN ISO 19749:2023-07 納米技術(shù) - 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）
- DIN EN ISO 21363:2022-03 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)
- DIN 66135-4:2004 粒度分析.用氣體吸收法進(jìn)行微孔分析.第4部分:根據(jù)Horvath-Kawazoe和Saito-Foley測(cè)定孔徑分布
- DIN EN ISO 28439:2011 工作場所環(huán)境.極細(xì)微氣溶膠/納米氣溶膠特征描述.利用微分電氣流動(dòng)分析系統(tǒng)進(jìn)行粒度分布和計(jì)數(shù)濃度測(cè)定(ISO 28439-2011).德文版本EN ISO 28439-2011
BE-NBN，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NBN M 02-005-1975 固體礦物燃料．焦炭（最大標(biāo)稱直徑不超過20毫米）的粒度測(cè)定分析
RU-GOST R，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R ISO 28439-2015 工作場所的大氣. 超細(xì)氣溶膠/納米氣溶膠的特性描述. 用差示電遷移率分析系統(tǒng)測(cè)定粒徑分布和數(shù)量濃度
CEN - European Committee for Standardization，關(guān)于納米微粒粒徑分析的標(biāo)準(zhǔn)
- PREN 17199-2-2018 工作場所暴露 含有或釋放納米物體或亞微米顆粒的散裝材料粉塵的測(cè)量 第2部分：轉(zhuǎn)鼓法
- PREN 17199-4-2017 工作場所暴露 含有或釋放納米物體或亞微米顆粒的散裝材料粉塵的測(cè)量 第4部分：小轉(zhuǎn)鼓法
- PREN 17199-3-2017 工作場所暴露 含有或釋放納米物體或亞微米顆粒的散裝材料粉塵的測(cè)量 第3部分：連續(xù)滴落法
- PREN 17199-5-2017 工作場所暴露 含有或釋放納米物體或亞微米顆粒的散裝材料粉塵的測(cè)量 第5部分：渦流振動(dòng)器法
- PREN 17199-1-2017 工作場所暴露 含有或釋放納米物體或亞微米顆粒的散裝材料粉塵的測(cè)量 第1部分：測(cè)試方法的要求和選擇
