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紫外 光譜 樣品 處理

本專題涉及紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)有17條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，紫外 光譜 樣品 處理涉及到電子元器件綜合、分析化學(xué)、地質(zhì)學(xué)、氣象學(xué)、水文學(xué)、輻射測(cè)量。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，紫外 光譜 樣品 處理涉及到標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、環(huán)境衛(wèi)生、地球科學(xué)、電離輻射計(jì)量、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• KS M 9102-1996 水質(zhì) 無焰原子吸收光譜法測(cè)定總汞（紫外輻照預(yù)處理后法）
• KS M 9102-1996(2001) 水質(zhì).用無火焰原子吸收光譜法測(cè)定總汞（紫外線輻射預(yù)處理后的方法）
• KS A ISO 11929-8-2008(2013) 電離輻射測(cè)量檢測(cè)限和判定閾的測(cè)定第8部分:不受樣品處理影響的光譜測(cè)量展開的基本原理和應(yīng)用
• KS A ISO 11929-8:2008 電離輻射測(cè)量的檢測(cè)限值和決定范圍的測(cè)定.第8部分:無樣品處理影響的光譜測(cè)量法演變的應(yīng)用
• KS A ISO 11929-8:2014 電離輻射測(cè)量的檢測(cè)限值和決定范圍的測(cè)定 第8部分：無樣品處理影響的光譜測(cè)量法演變的應(yīng)用

AT-ON，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• ONORM ISO 5666 Teil.2:1984 水質(zhì)．火焰原子吸收光譜法測(cè)定總汞量．用紫外線輻射預(yù)處理后的方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 5666-2:1983 水質(zhì).無焰原子吸收光譜法測(cè)定水銀總含量.第2部分:紫外線輻射預(yù)處理法
• ISO 11929-8:2005 電離輻射測(cè)量探測(cè)限和判斷閾的確定.第8部分:基本原則及對(duì)不受樣品處理影響的光譜測(cè)量法演變的應(yīng)用

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• prEN 25666-2-1992 水質(zhì).無焰原子吸收光譜法測(cè)定水銀總含量.第2部分:紫外線輻射預(yù)處理法(ISO 5666-2-83)

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM D7343-18 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
• ASTM D7343-20 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
• ASTM D7343-12(2017) 用于石油產(chǎn)品和潤(rùn)滑劑元素分析的X射線熒光光譜法優(yōu)化 樣品處理 校準(zhǔn)和驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程

安徽省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• DB34/T 2127.12-2014 區(qū)域地球化學(xué)調(diào)查樣品分析方法 第12部分：化學(xué)處理-發(fā)射光譜法 金含量的測(cè)定

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 11929-8:2004 電離輻射測(cè)量的檢測(cè)極限和判定閾值的測(cè)定 不受樣品處理影響的光譜測(cè)量展開的基本原理和應(yīng)用
• BS ISO 11929-3:2004 電離輻射測(cè)量的檢測(cè)極限和判定閾值的測(cè)定 不受樣品處理影響的高分辨率伽馬光譜法計(jì)數(shù)測(cè)量的基本原理和應(yīng)用

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于紫外 光譜 樣品 處理的標(biāo)準(zhǔn)

• NF M60-200-8:2005 電離輻射測(cè)量的探測(cè)極限和判斷閾值的測(cè)定.第8部分:基本原理和不受樣品處理影響的光譜測(cè)量演變的應(yīng)用

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可能用到的儀器設(shè)備