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x射線晶體分析:

本專題涉及x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)有499條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線晶體分析:涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、金屬材料試驗(yàn)、教育、無機(jī)化學(xué)、分析化學(xué)、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、半導(dǎo)體材料、粒度分析、篩分、黑色金屬、詞匯、有色金屬、輻射測量、耐火材料、空氣質(zhì)量、核能工程、建筑材料、無損檢測、電子元器件綜合、電站綜合、涂料配料、金屬礦、鋼鐵產(chǎn)品、輻射防護(hù)、醫(yī)療設(shè)備、電子管、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、鐵合金、石油產(chǎn)品綜合、有色金屬產(chǎn)品、燃料、光學(xué)設(shè)備、攝影技術(shù)、非金屬礦、實(shí)驗(yàn)室醫(yī)學(xué)、長度和角度測量、水質(zhì)、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、煤、造船和海上構(gòu)筑物綜合、犯罪行為防范、廢物、消防、信息技術(shù)應(yīng)用、陶瓷、橡膠和塑料工業(yè)的生產(chǎn)工藝。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線晶體分析:涉及到Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、金屬物理性能試驗(yàn)方法、教學(xué)專用儀器、無機(jī)化工原料綜合、教育、學(xué)位、學(xué)銜、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、化學(xué)試劑綜合、電離輻射計(jì)量、金屬化學(xué)分析方法綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、元素半導(dǎo)體材料、篩分、篩板與篩網(wǎng)、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、輕金屬及其合金分析方法、半導(dǎo)體分立器件綜合、硅質(zhì)耐火材料、耐火材料綜合、無機(jī)鹽、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、放射源、水泥、金屬無損檢驗(yàn)方法、、核儀器與核探測器綜合、電力試驗(yàn)技術(shù)、顏料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、重金屬及其合金分析方法、光學(xué)儀器綜合、鐵礦、鋼鐵與鐵合金分析方法、化妝品、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、涂料、通用核儀器、醫(yī)用射線設(shè)備、職業(yè)病診斷標(biāo)準(zhǔn)、化學(xué)、其他電真空器件、同位素與放射源綜合、放射衛(wèi)生防護(hù)、輻射防護(hù)儀器、物理學(xué)與力學(xué)、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、建材產(chǎn)品綜合、稀有輕金屬及其合金、燃料油、冶金原料與輔助材料綜合、催化劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、生產(chǎn)環(huán)境安全衛(wèi)生設(shè)施、鋼鐵產(chǎn)品綜合、金相檢驗(yàn)方法、石油地質(zhì)勘探、稀有金屬及其合金分析方法、輕金屬及其合金、顏料、光學(xué)測試儀器、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、固體燃料礦綜合、有色金屬礦綜合、感光材料、非金屬礦、化學(xué)計(jì)量、建材原料礦、不定型耐火材料、定型隔熱耐火材料、混凝土、集料、灰漿、砂漿、炭素材料綜合、感光材料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、輻射防護(hù)監(jiān)測與評(píng)價(jià)、炭素材料、實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)備、有色金屬及其合金產(chǎn)品綜合、冶金輔助原料礦、船舶工藝、安全防范報(bào)警系統(tǒng)、放射性同位素應(yīng)用儀器、輕金屬礦、液體介質(zhì)與植物、動(dòng)物、人體器官采樣方法、工業(yè)氣體與化學(xué)氣體、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、核材料、核燃料及其分析試驗(yàn)方法、稀有金屬礦、堿性耐火材料、石油產(chǎn)品綜合、物性分析儀器、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。


行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 42676-2023 半導(dǎo)體單晶晶體質(zhì)量的測試 X射線衍射法
  • GB/T 30904-2014 無機(jī)化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
  • GB/T 19421.1-2003 層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗(yàn)方法 δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
  • GB/T 19140-2003 水泥X射線熒光分析通則
  • GB/T 11114-1989 人造石英晶體位錯(cuò)的X 射線形貌檢測方法
  • GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
  • GB/T 13710-1992 分析用X射線管空白詳細(xì)規(guī)范
  • GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
  • GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • GB/T 5225-1985 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
  • GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
  • GB/T 8359-1987 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法
  • GB/T 16597-1996 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
  • GB/Z 42520-2023 鐵礦石X射線熒光光譜分析實(shí)驗(yàn)室操作指南
  • GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
  • GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
  • GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
  • GB/T 29513-2013 含鐵塵泥 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 21114-2007 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 - 熔鑄玻璃片法
  • GB/Z 32490-2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
  • GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
  • GB/T 8156.10-1987 工業(yè)用氟化鋁中硫量的測定 X射線熒光光譜分析法
  • GB/T 22571-2008 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀.能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
  • GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
  • GB/T 15208.2-2006 微劑量X射線安全檢查設(shè)備.第2部分;測試體
  • GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
  • GB/T 17416.2-1998 鋯礦石化學(xué)分析方法 X射線熒光光譜法測定鋯量和鉿量
  • GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
  • GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
  • GB/T 28633-2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • JY/T 0587-2020 多晶體X射線衍射方法通則
  • JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
  • JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
  • JY/T 009-1996 轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍身方法通則

PT-IPQ，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 34612-2017 藍(lán)寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線測量方法
  • GB/T 36017-2018 無損檢測儀器 X射線熒光分析管
  • GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)
  • GB/T 35734-2017 便攜式管激發(fā)X射線熒光分析儀 分類、安全要求及其試驗(yàn)

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • JJF 1256-2010 X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范
  • JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準(zhǔn)規(guī)范

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS H 7805:2005 用X射線衍射儀測定金屬晶體中晶粒大小的方法
  • JIS K 0181:2021 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
  • JIS H 1292:2018 銅合金.X射線熒光分光分析法
  • JIS M 8205:1983 鐵礦石熒光X射線分析方法
  • JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
  • JIS G 1256:1982 鋼鐵的熒光X射線分析方法
  • JIS K 0131:1996 X射線衍射計(jì)測量分析的通用規(guī)則
  • JIS Z 4922:1994 輻射計(jì)算機(jī)化層析X射線攝影機(jī)用人體模型
  • JIS H 1292:2005 銅合金的X射線熒光分光分析法
  • JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
  • JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
  • JIS K 0148:2005 表面化學(xué)分析.用總反射X-射線熒光(TXRF)測定法測定硅晶片的表面主要污染物
  • JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測定分析法
  • JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測定分析方法
  • JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測定分析法
  • JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
  • JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
  • JIS G 1204:1978 鋼鐵熒光X射線分析方法的通用規(guī)則
  • JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)
  • JIS H 1669:1990 鋯合金的X射線熒光光譜測定分析方法
  • JIS G 1351:1987 鐵合金的X射線熒光光譜測定分析方法
  • JIS R 2216:1995 耐火磚和耐火灰漿X射線熒光光譜分析方法
  • JIS R 5204:2002 用X射線熒光法對(duì)水泥進(jìn)行化學(xué)分析的方法
  • JIS R 5204:2019 用X射線熒光法對(duì)水泥進(jìn)行化學(xué)分析的方法
  • JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對(duì)質(zhì)量點(diǎn)分析用指南
  • JIS K 0145:2002 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量刻度的校準(zhǔn)
  • JIS K 0152:2014 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜分析. 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
  • JIS K 0189:2013 微束分析.電子探針顯微分析.波長色散X射線光譜學(xué)用實(shí)驗(yàn)參數(shù)的測定
  • JIS Z 4752-2-6:2001 醫(yī)療圖像部門的評(píng)估和常規(guī)檢驗(yàn).第2-6部分:穩(wěn)定性試驗(yàn).計(jì)算層析X光射線照相術(shù)用X光射線設(shè)備
  • JIS Z 4752-2-6:2012 醫(yī)療圖像部門的評(píng)估和常規(guī)檢驗(yàn).第2-6部分:穩(wěn)定性試驗(yàn).計(jì)算層析X光射線照相術(shù)用X光射線設(shè)備
  • JIS A 1481-3:2014 建筑材料產(chǎn)品中石棉的測定.第3部分:X-射線衍射法對(duì)含有石棉的定量分析

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • HB 6742-1993 單晶葉片晶體取向的測定X射線背射勞厄照相法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • SJ 20719-1998 碲鎘汞晶體X值的X-射線熒光法測定方法

KR-KS，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
  • BS ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射線散射法
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒徑分析.小角度X射線散射法
  • BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
  • BS ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報(bào)表
  • BS ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • BS ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
  • BS ISO 16258-2:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
  • BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
  • BS ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
  • BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
  • BS ISO 29581-2:2010 水泥.試驗(yàn)方法.用X射線熒光法的化學(xué)分析
  • BS EN 15305:2008 無損檢驗(yàn).使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • BS ISO 20203:2006 鋁生產(chǎn)用碳素材料.煅燒焦炭.用X射線衍射法測定煅燒石油焦炭的晶體粒度
  • BS EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐熔制品的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).濕化學(xué)分析
  • BS ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計(jì).能量等級(jí)的校準(zhǔn)
  • PD ISO/TS 16996:2015 固體生物燃料 X 射線熒光法測定元素成分
  • BS ISO 16258-1:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 直接過濾法
  • BS ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針顯微分析. 采用波長分散X射線光譜測定法的定性點(diǎn)分析指南
  • PD ISO/TR 12389:2009 水泥測試方法 測試計(jì)劃的報(bào)告 X 射線熒光化學(xué)分析
  • BS ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測量
  • BS EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（可選X射線熒光法） 濕化學(xué)分析
  • BS EN ISO 10058-2:2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).濕化學(xué)分析
  • BS 6870-3:1989 鋁礦石分析.第3部分:采用波長色散式X射線熒光法對(duì)多元素分析的方法
  • BS ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).二氧化硅厚度測量
  • BS ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性度
  • BS ISO 13318-3:2004 用離心液體沉淀法測定粒度分布.離心X射線法
  • BS ISO 16243:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • 20/30426694 DC BS ISO 22940 固體回收燃料 X 射線熒光法測定元素成分
  • BS ISO 13317-3:2001 用重力液體沉淀法測定粒度分布.X射線重力技術(shù)
  • BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角度X射線濺射法
  • ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射線散射（SAXS）
  • ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析
  • ISO 16258-2:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第2部分: 間接分析法
  • ISO/CD 5861 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色Al Ka XPS儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 石英晶體單色 Al Kα XPS 儀器強(qiáng)度校準(zhǔn)方法
  • ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
  • ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
  • ISO 14706:2000 表面化學(xué)分析 用總反射X-射線熒光(TXRF)測定法測定硅晶片的表面基本的污染
  • ISO 14706:2014 表面化學(xué)分析 用總反射X-射線熒光(TXRF)測定法測定硅晶片的表面基本的污染
  • ISO 16258-1:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第1部分: 直接過濾法
  • ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
  • ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
  • ISO 18554:2016 表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對(duì)材料進(jìn)行分析的X射線的意外降解的識(shí)別, 評(píng)估和修正程序
  • ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
  • ISO 15632:2021 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 15632:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
  • ISO 15632:2002 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器的能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范
  • ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質(zhì)量點(diǎn)的指南
  • ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
  • ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準(zhǔn)
  • ISO 29581-2:2010 水泥.試驗(yàn)方法.第2部分:用X射線熒光法的化學(xué)分析
  • ISO 20203:2005 鋁生產(chǎn)中使用的碳素材料.煅燒焦炭.用X-射線衍射法測定煅燒石油焦的晶體粒度
  • ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測定法定性點(diǎn)分析指南
  • ISO/TR 18392:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜學(xué).背景測定程序
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序
  • ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐火材料的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析
  • ISO 14701:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測量
  • ISO 12677:2011 用X射線熒光對(duì)耐火產(chǎn)品(XRF)進(jìn)行化學(xué)分析.熔鑄珠法
  • ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 14701:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測量
  • ISO/TR 12389:2009 水泥試驗(yàn)方法.X射線熒光進(jìn)行化學(xué)分析的試驗(yàn)程序報(bào)告
  • ISO 12980:2000 鋁生產(chǎn)用碳素材料 電極用生焦和煅燒焦 X射線熒光分析
  • ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數(shù)說明
  • ISO 16243:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
  • ISO 10058-2:2008 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析
  • ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
  • ISO 17054:2010 用X射線熒光光譜法(XRF)近似技術(shù)分析高合金鋼的常規(guī)方法
  • ISO 13317-3:2001 用比重液體沉積法測定粒度分布 第3部分：X射線比重法
  • ISO 13318-3:2004 用離心液體沉積法測定粒度分布.第3部分:離心X射線法
  • ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜法.選定的儀器性能參數(shù)的描述
  • ISO 24237:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子光譜法.強(qiáng)度的可重復(fù)性和穩(wěn)定性

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法
  • GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法
  • GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法
  • GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
  • GB/T 16597-2019 冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則
  • GB/T 21114-2019 耐火材料 X射線熒光光譜化學(xué)分析 熔鑄玻璃片法
  • GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測定方法
  • GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染

RU-GOST R，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
  • DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
  • DIN 51418-1:2008 X射線光譜測定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
  • DIN EN 13925-2:2003 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
  • DIN EN 13925-1:2003 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:總則
  • DIN EN 13925-3:2005 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 無損檢測 - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 2 部分：程序
  • DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
  • DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
  • DIN EN 13925-1:2003-07 無損檢測 - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 1 部分：一般原理
  • DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準(zhǔn)和結(jié)果評(píng)估的定義和基本原則
  • DIN 50433-1:1976 無機(jī)半導(dǎo)體材料的檢驗(yàn).第1部分:采用X射線衍射現(xiàn)象對(duì)單晶體取向的測定
  • DIN EN 1330-11:2007-09 無損檢測 術(shù)語 第11部分：多晶和非晶材料 X 射線衍射中使用的術(shù)語
  • DIN IEC 62495:2011 核儀器.使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設(shè)備(IEC 62495-2011)
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗(yàn)方法
  • DIN EN 15305:2009-01 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗(yàn)方法
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及對(duì)結(jié)果評(píng)定的基本原理.附加信息和計(jì)算范例
  • DIN EN 1330-11:2007 無損檢驗(yàn).專業(yè)術(shù)語.第11部分:在多晶和非晶材料的X射線衍射中使用的術(shù)語
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 無損檢驗(yàn) 使用X射線衍射法進(jìn)行分析殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • DIN 50443-1:1988 半導(dǎo)體工藝使用材料的檢驗(yàn).第1部分:用X射線外形測量法檢測半導(dǎo)體單晶硅中晶體缺陷和不均勻性
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析法制定校準(zhǔn)曲線
  • DIN 51729-10:1996 固體燃料試驗(yàn).燃料灰化學(xué)成分測定.第10部分:X射線熒光分析法(RFA)
  • DIN EN 15305:2009 無損檢測.X射線衍射法對(duì)殘余應(yīng)力分析用試驗(yàn)方法
  • DIN 51729-10:2011-04 固體燃料的測試 燃料灰分化學(xué)成分的測定 第10部分：X射線熒光分析
  • DIN 51729-10:2011 固體燃料的試驗(yàn).燃料灰分化學(xué)組成的測定.第10部分:X射線熒光分析
  • DIN ISO 15632:2015 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)范(ISO 15632-2012)
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 顏料.二氧化鈦顏料.分析方法.用X射線熒光分析測定次要成分的實(shí)例
  • DIN EN 12698-2:2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
  • DIN 6868-163:2020-08 診斷 X 射線部門的圖像質(zhì)量保證 第163部分：數(shù)字乳腺 X 光立體定位 X 射線裝置的驗(yàn)收和穩(wěn)定性測試
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐熔制品的化學(xué)分析(可選擇X射線熒光法).第2部分:濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代X射線熒光法）-第2部分：濕化學(xué)分析
  • DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN 6871-2:2005 正電子放射層析X射線攝影法用回旋加速器系統(tǒng).第2部分:輻射防護(hù)迷宮式密封體和護(hù)墻入口
  • DIN EN ISO 12677:2013-02 通過 X 射線熒光(XRF)對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 熔鑄珠法
  • DIN 51440-1:2003 汽油檢測.磷含量測定.第1部分:波長色散X射線光譜分析法
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化學(xué)分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標(biāo)度校準(zhǔn) (ISO 15472:2010)
  • DIN EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析(可選X射線熒光法) 第2部分:濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 10058-2:2009-04 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（替代X射線熒光法）-第2部分：濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 20565-2:2009-06 含鉻耐火制品和含鉻原材料的化學(xué)分析（替代X射線熒光法）-第2部分：濕化學(xué)分析
  • DIN EN ISO 14597:1999 礦物油制品.釩和鎳含量的測定.波長色散X射線熒光分析法
  • DIN 25703:1993 硝酸溶液中鈾含量和钚含量的測定.波長分散X射線熒光分析法
  • DIN 51790-7:2002 液體燃料試驗(yàn).釩和鎳含量測定.第7部分:波長色散X射線光譜法(XRS)和基本參數(shù)法分析
  • DIN EN ISO 22940:2021-12 固體回收燃料 - 通過 X 射線熒光測定元素成分（ISO 22940:2021）
  • DIN EN 10315:2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
  • YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
  • YS/T 1344.3-2020 摻錫氧化銦粉化學(xué)分析方法 第3部分：物相分析 X射線衍射分析法
  • YS/T 1160-2016 工業(yè)硅粉定量相分析 二氧化硅含量的測定 X射線衍射K值法
  • YS/T 483-2022 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 （波長色散型）
  • YS/T 1033-2015 干式防滲料元素含量的測定 X射線熒光光譜分析法

美國電氣電子工程師學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEEE 759-1984 半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗(yàn)程序

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 無損檢驗(yàn) 多晶和非晶材料的X射線衍射 第2部分：程序
  • NF EN 1330-11:2007 無損檢測 - 術(shù)語 - 第 11 部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:基本原則
  • NF EN 13925-2:2003 無損檢測 - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 2 部分：程序
  • NF EN 13925-3:2005 無損檢測-應(yīng)用于多晶和非晶材料的X射線衍射-第3部分：設(shè)備
  • NF EN 13925-1:2003 無損檢測 - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 1 部分：一般原理
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 無損檢測.術(shù)語.第11部分:多結(jié)晶和非結(jié)晶材料中X射線衍射用術(shù)語
  • NF X21-071:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則
  • NF EN 15305:2009 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗(yàn)方法
  • NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射測定結(jié)晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分：間接分析方法
  • NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 X 射線衍射法測定結(jié)晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分：直接過濾分析方法
  • NF X11-683:1981 液體內(nèi)變高度重力沉積粉末顆粒分析.X射線吸收測量法
  • NF EN ISO 12677:2011 X射線熒光法耐火材料化學(xué)分析-熔珠法
  • NF T25-111-3:1991 碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第3部分：X 射線衍射的方位角分析
  • NF X21-008:2012 微光束分析.帶半導(dǎo)體探測器能量發(fā)散X射線分光儀的儀器規(guī)格
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 無損檢測.用X射線衍射對(duì)殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • NF A09-217-1:1994 無損檢驗(yàn).工業(yè)用X射線照相膠片.第1部分:工業(yè)X射線照相用膠片體系的分類
  • NF S92-502:2006 醫(yī)用生物分析實(shí)驗(yàn)室.人類輻射學(xué).肺計(jì)數(shù).低能X-射線和α-射線發(fā)射器(小于200 keV)
  • NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南
  • NF A09-285:1999 無損試驗(yàn).通過X射線衍射進(jìn)行殘余應(yīng)力分析的試驗(yàn)方法
  • NF X21-055:2006 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 石油產(chǎn)品 釩和鎳含量的測定 X射線熒光分析法
  • NF A11-103:1977 鈮鐵合金的化學(xué)分析.X射線熒光光譜法測定鈮
  • NF EN ISO 22940:2021 固體回收燃料 X 射線熒光測定元素成分
  • XP A06-379-1999 波長散射性X射線熒光光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)常規(guī)用法的制定指南
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法.
  • NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 硅酸鋁耐火材料的化學(xué)分析（可選擇X射線熒光法）第2部分：濕法化學(xué)分析
  • NF ISO 22262-3:2017 空氣質(zhì)量固體材料第3部分：X射線衍射法定量測定石棉
  • NF X20-301:1978 用不分散紅外線射束吸收的氣體分析法
  • NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X射線熒光法（XRF）對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 鑄珠熔融法
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜術(shù)(XPS)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
  • NF ISO 16243:2012 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜(XPS)中的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告
  • NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進(jìn)行塊狀樣品的定量點(diǎn)分析
  • FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測定硅鐵中的Si和Al
  • NF ISO 13317-3:2001 液體中重力沉降法測定粒度分布 第3部分：X 射線重力法
  • NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火產(chǎn)品的化學(xué)分析（可選擇X射線熒光法）第2部分：潮濕化學(xué)分析
  • NF EN ISO 21587-2:2007 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（X射線熒光法的替代方法）第2部分：濕化學(xué)分析方法

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D5380-93(2009) 用X射線繞射分析識(shí)別涂料中結(jié)晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2003) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM D5380-93(1998) 用X射線繞射分析法鑒定涂料中結(jié)晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5380-93(2021) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴(kuò)展劑的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM D5380-93(2014) 用X射線繞射分析法鑒定涂料中水晶顏料和填充劑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-05 X射線發(fā)散光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1085-95(2004) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗(yàn)方法
  • ASTM E975-00 X射線測定近似隨機(jī)晶體取向鋼中殘留奧氏體的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a(2006) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E572-02a 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-90(1999) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-02(2021) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜測定分析法
  • ASTM D5381-93(2003) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
  • ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
  • ASTM E975-03 近隨機(jī)結(jié)晶定向鋼中殘留奧氏體的X射線測定標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E975-03(2008) 近隨機(jī)結(jié)晶定向鋼中殘留奧氏體的X射線測定標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E975-22 近隨機(jī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的X射線測定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E975-13 近隨機(jī)結(jié)晶定向鋼中殘留奧氏體的X射線測定的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1271-99 石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石灰石X射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E2465-11e1 用 X 射線光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰和石灰?guī)rX射線光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3294-22 用粉末X射線衍射法對(duì)地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1621-13 波長色散X射線熒光光譜法元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM F1375-92(2005) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜分析試驗(yàn)法
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
  • ASTM D2332-84(1999) 通過波長 - 分散X射線熒光分析水形沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E539-90(1996)e1 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-02 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-06 6鋁4釩鈦合金的X射線輻射光譜測定分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3294-23 用粉末X射線衍射法對(duì)地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-10e1 掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D6052-97(2016) 通過能量分散X射線熒光法制備和元素分析液體危險(xiǎn)廢物的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E539-11 利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1085-09 用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2465-19 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6052-97 通過能量分散X-射線熒光性對(duì)液體有害廢物制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6052-97(2003) 通過能量分散X-射線熒光性對(duì)液體有害廢物制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6052-97(2008) 通過能量分散X-射線熒光性對(duì)液體有害廢物制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6052-97(2023) 用能量分散X射線熒光法對(duì)液體危險(xiǎn)廢物的制備和元素分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1361-02 X射線光譜測定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1361-02(2007) X射線光譜測定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1361-02(2014)e1 X射線光譜測定分析中共存元素效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D2332-84(2003) 用波長色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM C1416-99 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM C1416-04 用X射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1621-94(1999) 用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D2332-08 用波長色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1621-22 用波長色散X射線熒光光譜法進(jìn)行元素分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1416-04(2009) 用X 射線熒光法分析天然水和廢水中鈾的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-13 用波長色散X射線熒光法作水沉積物分析標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM E1588-16 采用掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法進(jìn)行射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E539-19 用波長色散X射線熒光光譜法分析鈦合金的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D2332-13(2021) 用波長色散X射線熒光法分析水成沉積物的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM F1375-92(2012) 氣體分配系統(tǒng)元部件用金屬表面狀態(tài)的能量分散X射線分光光譜儀 (EDX) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E539-07 6鋁4釩鈦合金的X射線熒光光譜測定分析用標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN 13925-2:2003 無損檢測.多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
  • EN 13925-3:2005 無損檢驗(yàn).多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
  • EN 13925-1:2003 無損檢驗(yàn).多晶體材料和無定形材料的X射線衍射.第1部分:一般原理
  • prEN 584-1-1991 非破壞試驗(yàn).工業(yè)用X射線照相膠片.第1部分:工業(yè)X射線照相用膠片體系的分類
  • CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定硅和鋁
  • EN 12698-2:2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
  • PD CEN/TR 10354:2011 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵的分析 X射線熒光光譜法測定硅和鋁
  • EN 15305:2008 無損檢驗(yàn).使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗(yàn)方法.合并勘誤表-2009年1月
  • EN 10315:2006 使用臨近技術(shù)用X射線熒光光譜法(XRF)分析高合金鋼的常規(guī)法

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • DS/EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
  • DS/EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • DS/EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
  • DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • DS/EN 15305:2008 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • DS/CEN/TR 10354:2012 黑色金屬材料的化學(xué)分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定Si和Al
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法）第2部分：濕化學(xué)分析
  • DS/EN ISO 12677:2011 通過 X 射線熒光（XRF）對(duì)耐火產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)分析 熔鑄珠法
  • DS/EN ISO 10058-2:2009 菱鎂礦和白云石耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析
  • DS/EN ISO 20565-2:2009 含鉻耐火制品和含鉻原材料的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析
  • DS/EN ISO 22940:2021 固體回收燃料 用 X 射線熒光法測定元素成分（ISO 22940:2021）

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • LST EN 13925-3-2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • LST EN 13925-2-2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
  • LST EN 13925-1-2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
  • LST EN 15305-2008 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • LST EN ISO 21587-2:2007 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析（ISO 21587-2:2007）

AENOR，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN 13925-2:2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
  • UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
  • UNE-EN 13925-1:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
  • UNE-EN 1330-11:2008 無損檢測 術(shù)語 第11部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射中使用的術(shù)語
  • UNE-EN 15305:2010 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗(yàn)方法
  • UNE-EN ISO 21587-2:2008 鋁硅酸鹽耐火制品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析（ISO 21587-2:2007）

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
  • ANSI/ASTM D6247:1998 通過X射線熒光光譜法對(duì)聚烯烴中元素含量分析的試驗(yàn)方法

IT-UNI，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNI 6966-1971 通過X射線的衍射進(jìn)行多晶體中的極面圖形數(shù)量測定

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-衛(wèi)生，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • WS/T 117-1999 X、γ、β射線和電子束所致眼晶體劑量估算規(guī)范

國際電工委員會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC 62495:2011 核監(jiān)測儀表.利用微型X-射線管的便攜式X-射線熒光分析設(shè)備
  • IEC 60601-2-44:1999 醫(yī)用電氣設(shè)備.第2-44部分:計(jì)算的X線體層照相術(shù)X射線設(shè)備安全的特殊要求

衛(wèi)生部國家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • YS/T 273.14-2008 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 14部分:X射線熒光光譜分析法測定元素含量
  • YS/T 273.11-2006 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法.第11部分：x射線熒光光譜分析法測定硫含量
  • YS/T 869-2013 4A沸石化學(xué)成分分析方法 X射線熒光法
  • YS/T 273.15-2012 冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第15部分：X射線熒光光譜分析（壓片）法測定元素含量
  • YS/T 483-2005 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長色散型)
  • YS/T 703-2014 石灰石化學(xué)分析方法 元素含量的測定 X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-化工，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • HG/T 6149-2023 加氫催化劑及其載體中二氧化硅晶相含量的測定 X射線衍射法
  • HG/T 6150-2023 潤滑油加氫異構(gòu)催化劑化學(xué)成分分析方法 X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • DZ/T 0370-2021 便攜式X射線熒光現(xiàn)場分析技術(shù)規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • SY/T 5163-1995 沉積巖粘土礦物相對(duì)含量X射線衍射分析方法
  • SY/T 5163-2010 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法
  • SY/T 6210-1996 沉積巖中粘土礦物總量和常見非粘土礦物X射線衍射定量分析方法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • YY 0832.1-2011 X射線放射治療立體定向及計(jì)劃系統(tǒng).第1部分：頭部X射線放射治療立體定向及計(jì)劃系統(tǒng)

IET - Institution of Engineering and Technology，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

AT-ON，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • ONORM S 5240-8-2002 X射線診斷圖像質(zhì)量保證．第8部分：X射線投影中帶數(shù)字圖像受體系統(tǒng)的X射線系統(tǒng)的持久性測試

IN-BIS，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • IS 12803-1989 X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-海關(guān)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • HS/T 12-2006 滑石、綠泥石、菱鎂石混合相的定量分析 X 射線衍射儀法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • SN/T 2079-2008 不銹鋼及合金鋼分析方法X-射線熒光光譜法
  • SN/T 3011.1-2011 X射線衍射法鑒別金屬礦產(chǎn)類進(jìn)口固體廢物物相.第1部分：通則

ES-UNE，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE 53934:2016 塑料 X 射線熒光法分析聚合物材料中的元素
  • UNE-EN ISO 22940:2022 固體回收燃料 通過 X 射線熒光測定元素成分
  • UNE-EN ISO 10058-2:2008 菱鎂礦和白云石耐火產(chǎn)品的化學(xué)分析（替代 X 射線熒光法） 第2部分：濕化學(xué)分析

國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • GJB 9763-2020 固體火箭發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒室高能X 射線層析成像檢測方法

工業(yè)和信息化部/國家能源局，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

國家能源局，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • SY/T 5163-2018 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法

(美國)福特汽車標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-船舶，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • CB/T 3929-1999 鋁合金船體對(duì)接接頭X射線照相及質(zhì)量分級(jí)
  • CB/T 3929-2013 鋁合金船體對(duì)接接頭X射線檢測及質(zhì)量分級(jí)

國家藥監(jiān)局，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • YY/T 1708.2-2020 醫(yī)用診斷X射線影像設(shè)備連通性符合性基本要求 第2部分：X射線計(jì)算機(jī)體層攝影設(shè)備

山東省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • DB37/T 266-1999 建材產(chǎn)品中廢渣摻加量的測定方法 X射線熒光分析法

福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • DB35/T 110-2000 油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法

CH-SNV，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

UNKNOWN，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • YY 0309-98 醫(yī)用電氣設(shè)備第2部分X射線計(jì)算機(jī)體層攝影設(shè)備

海關(guān)總署，關(guān)于x射線晶體分析:的標(biāo)準(zhǔn)

  • SN/T 3011.1-2020 X射線衍射法鑒別金屬礦產(chǎn)類進(jìn)口固體廢物物相 第1部分：通則


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