x射線分析分辨率

本專題涉及x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)有25條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線分析分辨率涉及到醫(yī)療設(shè)備、分析化學(xué)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線分析分辨率涉及到電離輻射計(jì)量、醫(yī)用射線設(shè)備、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、化學(xué)試劑綜合。

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• KS A 4902-2022 X射線設(shè)備分辨率測(cè)試卡
• KS A 4902-1979(2022) X射線設(shè)備分辨率測(cè)試圖
• KS A 4902-1979 X射線儀器分辨率測(cè)試圖
• KS A 4902-1987 X射線儀器分辨率測(cè)試圖
• KS A 4902-1979(2017) 分辨率測(cè)試圖用于X射線設(shè)備
• KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
• KS M 0043-2009 X射線衍射分析法
• KS D ISO 19319-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析儀觀察到的樣品面積的測(cè)定
• KS D ISO 19319:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS Z 4916:1997 X射線設(shè)備的分辨率特性測(cè)試圖

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定
• GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測(cè)定

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測(cè)定
• BS ISO 18516:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測(cè)定

GSO，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• OS GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測(cè)定
• BH GSO ISO 18516:2016 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測(cè)定
• GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測(cè)定

PT-IPQ，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• E E 14-1971 X射線衍射分析

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• NF X21-061:2008 表面化學(xué)分析.螺旋電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測(cè)定

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 18516:2006 表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測(cè)定
• ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對(duì)橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

SCC，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測(cè)定
• NEMA XR 11-1993(R1999) X射線圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)極限空間分辨率測(cè)定的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• AS ISO 19319:2006 表面化學(xué)分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對(duì)橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測(cè)

NEMA - National Electrical Manufacturers Association，關(guān)于x射線分析分辨率的標(biāo)準(zhǔn)

• NEMA XR 11-1987 X 射線圖像增強(qiáng)器系統(tǒng)極限空間分辨率測(cè)定的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

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可能用到的儀器設(shè)備