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全反射 x熒光
本專題涉及全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)有14條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，全反射 x熒光涉及到金屬材料試驗、半導(dǎo)體材料、分析化學(xué)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，全反射 x熒光涉及到半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
- GB/T 24578-2009 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
- GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 51003:2004 全反射X-射線熒光.總則和定義
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0181:2021 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析
- ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
- PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
- BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測定硅片表面元素雜質(zhì)
- KS D ISO 14706:2003 表面化學(xué)分析.用全反射X射線熒光光譜法測定硅圓片表面主要污物
KR-KS，關(guān)于全反射 x熒光的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質(zhì)
