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icp oes+ icp

本專題涉及icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)有26條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,icp oes+ icp涉及到紡織產(chǎn)品、環(huán)境保護(hù)、電氣工程綜合、電子元器件綜合、道路車輛裝置、分析化學(xué)。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,icp oes+ icp涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和通用方法、機電工業(yè)污染物排放標(biāo)準(zhǔn)、電子元件綜合。


美國材料與試驗協(xié)會,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E3171-21e1 用ICP-OES或ICP-MS分析法測定紡織品中總銀的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM E3171-21 用ICP-OES或ICP-MS分析法測定紡織品中總銀的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM E3171-21a 用ICP-OES或ICP-MS分析法測定紡織品中總銀的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • VDE 0042-1-4-2014 Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 4: Mercury in polymers@ metals and electronics by CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES and ICP-MS (IEC 62321-4:2013); German version EN 62321-4:2014
  • VDE 0042-1-4/A1-2016 Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 4: Mercury in polymers@ metals and electronics by CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES and ICP-MS (IEC 111/414/CDV:2016); German version EN 62321-4:2014/FprA1:2016
  • VDE 0042-1-4-2018 Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 4: Mercury in polymers@ metals and electronics by CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES and ICP-MS (IEC 62321-4:2013 + A1:2017); German version EN 62321-4:2014 + A1:2017
  • VDE 0042-1-5-2014 Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 5: Cadmium@ lead and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS@ AFS@ ICP-OES and ICP-MS (IEC 62321-5:2013); German version EN 62321-5:2014

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS C IEC 62321-4-2014(2019) 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第4部分:聚合物 金屬和電子學(xué)中的汞由Cv-Aas Cv-Afs Icp-Oes和Icp-Ms
  • KS C IEC 62321-5-2014(2019) 的電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第5部分:在聚合物和電子和鎘鉻鎘 鉛和并且在由AAS金屬鉛 AFS ICP-OES和ICP-MS

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS EN 62321-4:2014 電工技術(shù)產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定. 通過CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF C05-100-4/A1*NF EN 62321-4/A1:2017 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定. 第4部分: 用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
  • NF EN 62321-4/A1:2017 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第 4 部分:聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞,采用 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS
  • NF EN 62321-4:2014 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第 4 部分:聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞,采用 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS
  • NF EN 62321-5:2014 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第5部分:用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物和電子產(chǎn)品中的鎘、鉛和鉻以及金屬中的鎘和鉛

國際電工委員會,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC 62321-4:2013 電工制品中特定物質(zhì)的測定. 第4部分: 通過CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
  • IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
  • IEC 62321-4:2017 電工制品中特定物質(zhì)的測定.第4部分:通過CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
  • IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 電工制品中特定物質(zhì)的測定.第4部分:通過CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞.修改件1

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 39560.4-2021 電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分:CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子件中的汞
  • GB/T 39560.5-2021 電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第5部分: AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物和電子件中鎘、鉛、鉻以及金屬中鎘、鉛的含量

歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN 62321-4:2014 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分:使用 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
  • EN 62321-5:2014 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第5部分:使用 AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物和電子產(chǎn)品中的鎘、鉛和鉻以及金屬中的鎘和鉛

ES-UNE,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN 62321-4:2014 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分:通過 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
  • UNE-EN 62321-4:2014/A1:2017 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分:通過 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞
  • UNE-EN 62321-5:2014 電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第5部分:通過 AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物和電子產(chǎn)品中的鎘、鉛和鉻以及金屬中的鎘和鉛

VDI - Verein Deutscher Ingenieure,關(guān)于icp oes+ icp的標(biāo)準(zhǔn)

  • VDI 2267 BLATT 1-2018 Determination of suspended matter in ambient air - Measurement of the element concentration after sampling on filters - Determination of Al@ As@ Ba@ Ca@ Cd@ Co@ Cr@ Cu@ Fe@ K@ Mg@ Mn@ Na@ Ni@ Pb@ Sb@ Se@ Sn@ Tl@ V@ and Zn by GF-AAS@ ICP-OES@ or ICP-MS

icp oes+ icp,icp oes+,oes+ icpicp oes+ icp aas,icp oes+ icp 元素,icp oes+測試icp oes+ 元素,icp oes+ 離子icp oes+ 環(huán)境,icp oes+ 氧icp oes+銫,icp oes+ 量icp oes+ 分析,icp oes+法,icp oes+半定量icp oes+制樣,icp oes+ 元素 含量,icp icpicp icp aes,icp icp oes。

 

可能用到的儀器設(shè)備

 

賽默飛iCAP 7000 Plus 系列 ICP-OES

賽默飛iCAP 7000 Plus 系列 ICP-OES

賽默飛色譜與質(zhì)譜分析

 

Agilent 5110 ICP-OES

Agilent 5110 ICP-OES

安捷倫科技(中國)有限公司

 

Agilent 5800 ICP-OES

Agilent 5800 ICP-OES

安捷倫科技(中國)有限公司

 

 iCAP PRO系列ICP-OES

iCAP PRO系列ICP-OES

賽默飛色譜與質(zhì)譜分析

 

Agilent 5900 SVDV ICP-OES

Agilent 5900 SVDV ICP-OES

安捷倫科技(中國)有限公司

 

 




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