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x射線能譜
本專題涉及x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)有51條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線能譜涉及到分析化學(xué)、輻射測(cè)量、光學(xué)設(shè)備、核能工程、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、犯罪行為防范、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、紙和紙板、物理學(xué)、化學(xué)、天文學(xué)、大地測(cè)量學(xué)、地理學(xué)、無損檢測(cè)、電子元器件綜合。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線能譜涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、半導(dǎo)體分立器件綜合、通用核儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、犯罪鑒定技術(shù)、核儀器與核探測(cè)器綜合、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、、顏料、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、造紙綜合、紙、電子元件綜合、化學(xué)、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 20726-2006 半導(dǎo)體探測(cè)器X射線能譜儀通則
- GB/T 17723-1999 黃金制品鍍層成分的X射線能譜測(cè)量方法
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 11685-2003 半導(dǎo)體X射線探測(cè)器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀的測(cè)量方法
- GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
- GB/T 17361-1998 沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法
- GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 2679.11-1993 紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析 電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測(cè)定
CZ-CSN，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- CSN 35 6575 Z1-1997 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- IEEE 759-1984 半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗(yàn)程序
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半導(dǎo)體 X 射線能譜儀的 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- KS C IEC 60759:2009 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 60759:1983 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序
- IEC 60759:1983/AMD1:1991 半導(dǎo)體X射線能譜儀的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)程序 修改1
SE-SIS，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SIS SS IEC 759:1986 核檢測(cè)儀表．半導(dǎo)體X射線能譜儀檢測(cè)程序
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GA/T 1938-2021 法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1937-2021 法庭科學(xué) 橡膠檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1939-2021 法庭科學(xué) 電流斑檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1522-2018 法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1521-2018 法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1519-2018 法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1520-2018 法庭科學(xué) 黑火藥、煙火藥元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 823.3-2018 法庭科學(xué)油漆物證的檢驗(yàn)方法 第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DB44/T 1216-2013 利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征石墨烯的特性
- DB44/T 1215-2013 利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 110-2000 油漆物證檢測(cè)電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化學(xué)分析. X射線光電子能譜-評(píng)估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 16129:2018 跟蹤更改 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- BS ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評(píng)估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO/TS 10798:2011 納米技術(shù).使用掃描電鏡與X射線能譜分析的單臂碳納米管的特征描述
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評(píng)估規(guī)程
- ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
RU-GOST R，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 25645.118-1984 離散源的X射線輻射.能譜和角坐標(biāo)
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 41073-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報(bào)告的基本要求
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
IN-BIS，關(guān)于x射線能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- IS 12737-1988 半導(dǎo)體 X 射線能量光譜儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
