氣溶膠樣品首先在入口處形成顆粒束，再經(jīng)差動加壓系統(tǒng)進(jìn)入高真空區(qū)，在高真空區(qū)中用告訴電子流將顆粒束離子化，然后用靜電能量分子儀檢測粒子化顆粒動能和電荷之比，用速度中微笑顆粒的質(zhì)量和粒度分布。質(zhì)譜法測定顆粒的粒度范圍一般為1~50nm。 4、粒度分析的新進(jìn)展 隨著納米材料在高心技術(shù)產(chǎn)業(yè)、國防、醫(yī)藥等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，顆粒測量技術(shù)將向測量下限低、測量范圍廣、測量準(zhǔn)確度和度高、重現(xiàn)性好等方向發(fā)展。...
利用光子相關(guān)光譜方法可以測量1~3000nm范圍的粒度分布，特別適合超細(xì)納米材料的粒度分析研究。測量體積分布，準(zhǔn)確性高，測量速度快，動態(tài)范圍寬，可以研究分散體系的穩(wěn)定性。其缺點是不適用于粒度分布快的樣品測定。?????① 射法(static light scattering)在靜態(tài)光散射粒度分析法中，當(dāng)顆粒粒度大光波波長時，克用夫朗和費衍射測量前向小角區(qū)域的散射光強(qiáng)度分布來確定顆粒粒度。...
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