ASTM E1787-02
離子色譜法測定苛性鈉和苛性堿(氫氧化鈉和氫氧化鉀)中陰離子的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

Standard Test Method for Anions in Caustic Soda and Caustic Potash (Sodium Hydroxide and Potassium Hydroxide) by Ion Chromatography

被代替

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E1787-02

發(fā)布

2002年

總頁數(shù)

5頁

發(fā)布單位

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1787-08

當(dāng)前最新

ASTM E1787-25

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D1193 ASTM E180 ASTM E291

適用范圍

制造商和用戶對燒堿和燒堿中的陰離子雜質(zhì)進(jìn)行監(jiān)測，以控制產(chǎn)品的質(zhì)量。主要關(guān)注的陰離子是氯離子、氯酸根和硫酸根。本測試方法僅對這三種雜質(zhì)進(jìn)行精確估計(jì)。
1.1 本測試方法涵蓋使用離子色譜法 (IC) 測定 50% 苛性鈉（氫氧化鈉）和 50% 苛性鉀（氫氧化鉀）溶液中的陰離子雜質(zhì)。可測定濃度約為 0.1-1000 ppm 的陰離子包括：溴離子、氯酸根、氯離子、氟離子、硝酸根、磷酸根和硫酸根。
1.2 通過改變樣品量，該測試方法可用于無水燒堿和燒堿產(chǎn)品，以及其他濃度的液體產(chǎn)品。
1.3 本測試方法不適用于定量燒堿中的氯化物，其中氯化鈉濃度約為 1%。為了獲得最準(zhǔn)確的測定結(jié)果，建議使用電位滴定程序分析高濃度的氯化物，例如測試方法 E 291.1.4 中描述的程序。本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決所有安全問題（如果有），與其使用相關(guān)。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。具體危險(xiǎn)說明見第 8 節(jié)。

ASTM E1787-02 中可能用到的儀器設(shè)備

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