X射線熒光光譜法可以準(zhǔn)確、精確地測(cè)定金屬和許多非金屬元素。本指南涵蓋了 X 射線光譜分析方法中應(yīng)包含的信息，并為分析人員確定實(shí)現(xiàn)可接受的精度所需的最佳條件提供指導(dǎo)。分析的準(zhǔn)確性是校準(zhǔn)方案、樣品制備和樣品均勻性的函數(shù)。為了取得最佳結(jié)果，必須密切關(guān)注這些領(lǐng)域的各個(gè)方面。 1.1 本指南涵蓋了使用波長(zhǎng)色散 X 射線光譜儀開發(fā)和描述分析程序的指南。 1.2 以 SI 單位表示的值應(yīng)被視為標(biāo)準(zhǔn)。括號(hào)中給出的值僅供參考。 1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。