XRD、IR、SEM、EDS及紫外可見吸收的測試原理
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以獲得材料的元素組成信息
TEM：材料的表面形貌，結(jié)晶性。配合EDX可以獲得材料的元素組成
FTIR：主要用于測試高分子有機材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結(jié)構(gòu)。如單鍵，雙鍵等等
Raman：通過測定轉(zhuǎn)動能及和振動能及，用來測定材料的結(jié)構(gòu)。
CV：CV曲線可以測試得到很多信息，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導體行業(yè)可以得到直流偏壓
EIS：EIS就是電化學交流阻抗譜測試可以得到電極電位，阻抗信息，從而模擬出系統(tǒng)內(nèi)在串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息
BET：主要是測試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積信息。
XRD：主要是測試材料的物性，晶型的。高級的XRD還可以測試材料不同晶型的組分。
質(zhì)譜：主要用于鑒定材料的化學成分，包括液相質(zhì)譜，氣象質(zhì)譜
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