金相圖與SEM圖的區(qū)別
金相觀察是依賴可見光的反射,其原理是被腐蝕的晶界處發(fā)生漫反射,在照片上是暗的;未被腐蝕的晶粒內(nèi)部發(fā)生的是鏡面反射,在照片上是亮的.SEM分二次電子像和背散射電子像:二次電子像必須腐蝕樣品,不腐蝕的話什么都看不到.照完金相的樣品可以直接照二次電子,但照片的情況有所不同,<1000倍時(shí),二次電子像觀察到的晶界是亮的,因?yàn)榫Ы绫桓g掉,樣品在晶界出現(xiàn)棱角,二次電子的產(chǎn)額大,因此是量的,晶界內(nèi)部反而暗.如果倍數(shù)放到足夠大,能夠看清晶界處的腐蝕程度和凹凸情況;背散射電子像是分析樣品的成分分布,最好不要腐蝕樣品,因?yàn)楦g樣品會(huì)把第二相腐蝕掉.
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