3 幾種常用的篩選項目

　　3 。 1 高溫貯存

　　電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學變化所引起，它們與溫度有密切的關(guān)系。溫度升高以后，化學反應(yīng)速度大大加快，失效過程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及時暴露，予以剔除。

　　高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機理的器件。通常在最高結(jié)溫下貯存2 4 -1 6 ?8小時。

　　高溫篩選簡單易行，費用不大，在許多元器件上都可以施行。通過高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來，減少使用中的參數(shù)漂移。各種元器件的熱應(yīng)力和篩選時間要適當選擇，以免產(chǎn)生新的失效機理。

　　3 。 2 功率電老煉

　　篩選時，在熱電應(yīng)力的共同作用下，能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷，它是可靠性篩選的一個重要項目。

　　各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉幾小時至168小時，有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，但可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫，達到高應(yīng)力狀態(tài)，各種元器件的電應(yīng)力要適當選擇，可以等于或稍高于額定條件，但不能引人新的失效機理。功率老煉需要專門的試驗設(shè)備，其費用較高，故篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常為幾個小時，軍用高可靠產(chǎn)品可選擇 ?1 0 0 .1 6 8小時，宇航級元器件可以選擇2 4 0小時甚至更長的周期。

　　3 。 3 溫度循環(huán)

　　電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件，在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配

　　性能差的元器件就容易失效。溫度循環(huán)篩選利用了極端高溫和極端低溫間的熱脹冷縮應(yīng)力，能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。元器件常用的篩選條件是－55 ～＋1 ?2 5℃，循環(huán)5 ～10次。

　　3 。 4 離心加速度

　　離心加速度試驗又稱恒定應(yīng)力加速度試驗。這項篩選通常在半導體器件上進行，把利用高速旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生的離心力作用于器件上，可以剔除鍵合強度過弱、內(nèi)引線匹配不良和裝架不良的器件，通常選用20000 ?g 離心加速度持續(xù)試驗一分鐘。

　　3 。 5 監(jiān)控振動和沖擊

　　在對產(chǎn)品進行振動或沖擊試驗的同時進行電性能的監(jiān)測常被稱為監(jiān)控振動或監(jiān)控沖擊試驗。這項試驗?zāi)苣M產(chǎn)品使用過程中的振動、沖擊環(huán)境，能有效地剔除瞬時短、斷路等機械結(jié)構(gòu)不良的元器件以及整機中的虛焊等故障。在高可靠繼電器、接插件以及軍用電子設(shè)備中，監(jiān)控振動和沖擊是一項重要的篩選項目。

　　典型的振動條件是： 頻率2 0 ～ 2000 Hz ，加速度2~20 g ，掃描1~ ?2周期，在共振點附近要多停留一段時間。典型的沖擊篩選條件是1500^ -3000g ，沖擊3 ~5 次，這項試驗僅適用于元器件。

　　監(jiān)控振動和沖擊需要專門的試驗設(shè)備，費用昂貴，在民用電子產(chǎn)品中一般不采用。

　　除以上篩選項目外，常用的還有粗細檢漏、鏡檢、線性判別篩選、精密篩選等。